常用的粒度測量方法以及優(yōu)缺點是什么?
常用的粒度測量方法以及優(yōu)缺點是什么?
(1)篩分法
(2)沉降法(重力沉降法、離心沉降法)
(3)電阻法(庫爾特顆粒計數(shù)器)
(4)顯微鏡(圖像)法
(5)電鏡法
(6)超聲波法
(7)透氣法
(8)激光衍射法
各種方法的優(yōu)缺點
篩分法:優(yōu)點:簡單、直觀、設備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點:不能用于40μm以細的樣品;結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法:優(yōu)點:簡單、直觀、可進行形貌分析。 缺點:速度慢、代表性差,無法測超細顆粒。
沉降法(包括重力沉降和離心沉降):優(yōu)點:操作簡便,儀器可以連續(xù)運行,價格低,準確性和重復性較好,測試范圍較大。 缺點:測試時間較長。
電阻法:優(yōu)點:操作簡便,可測顆粒總數(shù),等效概念明確,速度快,準確性好。 缺點:測試范圍較小,小孔容易被顆粒堵塞,介質(zhì)應具備嚴格的導電特性。
電鏡法:優(yōu)點:適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點:樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。
超聲波法:優(yōu)點:可對高濃度漿料直接測量。 缺點:分辨率較低。
透氣法:優(yōu)點:儀器價格低,不用對樣品進行分散,可測磁性材料粉體。 缺點:只能得到平均粒度值,不能測粒度分布。
激光法:優(yōu)點:操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復性和準確性好,可進行在線測量和干法測量。 缺點:結果受分布模型影響較大。