目錄:麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司>>物理吸附>>比表面及孔隙度儀>> TriStar II Plus系列比表面儀
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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儀器種類 | 比表面及孔徑分析儀 | 應用領域 | 環保,化工,石油,能源 |
高性能多通道全自動比表面儀TriStar II Plus系列
TriStar II Plus系列比表面儀硬件優勢和軟件特點
數據處理優勢
強大的軟件功能,數據處理特性和儀器監控功能
用于TriStar II Plus系列的MicroActive軟件
直觀的MicroActive軟件使用戶能夠以交互方式評估等溫線數據,并減少獲取表面積和孔隙度結果所需的時間,不需要生成報告便可查看結果。用戶可以很容易的產生并調整BET比表面積變換圖等計算結果;可方便快速的通過計算條選擇數據點,計算所得到的數據結果可及時更新,并可在計算窗口內進一步細化使用的數據范圍。
氣體吸附數據和壓汞數據疊加功能
TriStar II Plus系列比表面儀的MicroActive軟件允許用戶將壓汞法得到的孔隙分布與氣體吸附等溫線得到的孔徑分布圖疊加。這種新的功能使得用戶在一個軟件中即可分析微孔、介孔和大孔分布。
包含Python編程語言
TriStar II Plus系列比表面儀的軟件內嵌Python編程語言。用戶可使用這種強大的腳本語言在儀器的應用中擴展標準報告庫。
NLDFT
雙NLDFT方法允許用戶同時應用氮氣吸附和二氧化碳吸附等溫線得到材料的全范圍孔徑分布。相對于標準的氮吸附分析,這種方法可以將孔徑分析擴展到更小的孔徑。這是因為CO2可在低溫下進入更小的微孔,而N2由于尺寸限制以及擴散緩慢等原因進入不了這些微孔。
Dual DFT
這種NLDFT方法允許用戶用兩個等溫線確定樣品的孔徑分布。在這個例子中,二氧化碳在273K吸附等溫線(紅色)和氮在77K吸附等溫線(綠色)用于計算一個單一的孔徑分布。用戶不必剪切粘貼二氧化碳和氮氣吸附數據,而可以使用兩個等溫線獲得一個單一的孔徑分布。
您只需點擊一下,TriStar II Plus系列就能提供一套強大的信息,使儀器既能保持好的工作狀態,又能顯示實時分析視圖。
樣品制備設備
麥克儀器樣品制備裝置可為比表面和孔隙度分析制備樣品。它使用流動氣體或者抽真空并加熱達到去除污染物的目的,例如樣品表面或者孔隙中的水蒸汽和吸附氣體。
比表面積和孔體積分析產生的數據質量在很大程度上取決于樣品 表面的清潔度。麥克儀器公司的樣品制備裝置可使用氦氣、氮氣、氬氣和其他非腐蝕性氣體。
FlowPrep™060通過對樣品加熱和惰性流動氣體從樣品表面和孔隙中去除吸附的污染物。FlowPrep擁有六個脫氣站,可選擇適用于樣品材料以及應用的溫度、氣體和流量。針閥設計使氣體流動緩慢,防止樣品被吹走。
VacPrep™ 061提供兩種方式除污染物。除了流動氣體法外,它可以通過加熱和真空法制備樣品。VacPrep擁有六個脫氣站,每個站都可選真空制備或流動氣體制備樣品。針閥設計使氣體流動緩慢,防止樣品被吹走。
智能的VacPrep™067是一種六站系統利用加熱抽真空法來制備樣品。每個站可以獨立操作,而不會影響其他正在處理的樣品。當樣品完成所有脫氣步驟后,脫氣將自動終止。