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串聯(lián)諧振上海滬怡為您導(dǎo)讀:絕緣電阻測試儀(也稱為智能雙顯絕緣電阻測試儀)共有三種類型的用于測量絕緣電阻的測試,每種測試都采用其自己的方法,重點(diǎn)放在被測設(shè)備的特定絕緣特性上。用戶需要選擇適合測試要求的一種。
點(diǎn)測試:此測試適用于電容效應(yīng)較小或可忽略的設(shè)備,例如短接線。
在較短的時(shí)間間隔內(nèi)施加測試電壓,直到達(dá)到穩(wěn)定的讀數(shù)為止,或者在固定的時(shí)間段(通常為60秒或更短)內(nèi)施加測試電壓。在測試結(jié)束時(shí)收集讀數(shù)。對(duì)于歷史記錄,將基于讀數(shù)的歷史記錄繪制圖表。對(duì)趨勢(shì)的觀察是在一段時(shí)間內(nèi)進(jìn)行的,通常是數(shù)年或數(shù)月。
此測試通常是針對(duì)測試或歷史記錄執(zhí)行的。溫度和濕度的變化可能會(huì)影響讀數(shù),必要時(shí)必須進(jìn)行補(bǔ)償。
耐時(shí)測試:該測試適用于旋轉(zhuǎn)機(jī)械的預(yù)測性和預(yù)防性維護(hù)。
在特定時(shí)間(通常每隔幾分鐘)獲取連續(xù)的讀數(shù),并比較讀數(shù)的差異。良好的絕緣將顯示電阻值的持續(xù)增加。如果讀數(shù)停滯不前,且讀數(shù)未如預(yù)期那樣增加,則絕緣可能較弱,可能需要引起注意。潮濕且受污染的絕緣體可能會(huì)降低電阻讀數(shù),因?yàn)樗鼈儠?huì)增加測試期間的泄漏電流。只要在被測器件中沒有明顯的溫度變化,溫度對(duì)該測試的影響就可以忽略不計(jì)。
極化指數(shù)(PI)和介電吸收比(DAR)通常用于量化耐時(shí)測試結(jié)果。
極化指數(shù)(PI)
極化指數(shù)定義為10分鐘電阻值與1分鐘電阻值之比。建議將AC,DC旋轉(zhuǎn)機(jī)械在B,F(xiàn)和H類溫度下的PI的最小值設(shè)為2.0,而對(duì)于A類設(shè)備的PI的最小值應(yīng)為2.0 。
注意:某些新的絕緣系統(tǒng)對(duì)絕緣測試的響應(yīng)速度更快。它們通常從GΩ范圍的測試結(jié)果開始,得出PI在1和2之間。在這些情況下,可以忽略PI計(jì)算。如果1分鐘絕緣電阻高于5GΩ,則計(jì)算出的PI可能沒有意義。
階躍電壓測試:當(dāng)設(shè)備的額定電壓高于絕緣電阻測試儀產(chǎn)生的可用測試電壓時(shí),此測試特別有用。
逐步將不同的電壓電平施加到被測設(shè)備。建議的測試電壓比率為1:5。每個(gè)步驟的測試時(shí)間相同,通常為60秒,從低到高。此測試通常在低于設(shè)備額定電壓的測試電壓下使用。測試電壓電平的快速增加會(huì)在絕緣上產(chǎn)生額外的應(yīng)力,并使弱點(diǎn)失效,從而導(dǎo)致較低的電阻值。
測試電壓選擇
由于絕緣電阻測試由高直流電壓組成,因此必須選擇適當(dāng)?shù)臏y試電壓,以避免對(duì)絕緣施加過大的應(yīng)力,否則可能導(dǎo)致絕緣故障。測試電壓也可能根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)而變化。