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紅外測(cè)溫儀使用時(shí)有哪些環(huán)境影響?
閱讀：804 發(fā)布時(shí)間：2013-8-22 紅外測(cè)溫技術(shù)已發(fā)展到可對(duì)有熱變化表面進(jìn)行掃描測(cè)溫，確定其溫度分布圖像，迅速檢測(cè)出隱藏的溫差， 這就是紅外熱像儀.紅外熱像儀zui先應(yīng)用于軍事上，美國(guó)TI公司1911年研制出世界上*臺(tái)紅外掃描偵察系統(tǒng)。以后，紅外熱成像技術(shù)在西方國(guó)家陸續(xù)用于飛機(jī)、坦克、軍艦和其他武器上，作為偵察目標(biāo)的熱瞄系統(tǒng)，大大提高了搜索、命中目標(biāo)的能力。
紅外測(cè)溫儀在諸多領(lǐng)域中應(yīng)用到，例如：在玻璃工業(yè)的生產(chǎn)工藝過(guò)程中，溫度的測(cè)量控制是其中一種非常重要且必要的手段，紅外測(cè)溫因其具有操作簡(jiǎn)單，響應(yīng)速度快，不老化，漂移小，配置靈活，不會(huì)污染玻璃溶液等因素而受到重視。
紅外測(cè)溫儀環(huán)境影響：
大氣衰減
由于受檢電氣設(shè)備表面紅外輻射能量，是經(jīng)大氣傳輸?shù)郊t外檢測(cè)儀器里的，這就會(huì)受到大氣組合中的水蒸汽、二氧化碳、一氧化碳等氣體分子的吸收衰減和空氣中懸浮微粒的散射而衰減，設(shè)備輻射能量傳輸?shù)乃p隨著檢測(cè)儀器到被測(cè)設(shè)備之間的距離，降低了被測(cè)設(shè)備輻射的透過(guò)率，所以其衰減是隨距離的增大而增加，降低受檢設(shè)備故障部位與正常部位的輻射對(duì)比度，也會(huì)因?yàn)榧t外儀器接收到的目標(biāo)能量減少，使得儀器顯示出來(lái)的溫度低于被測(cè)故障點(diǎn)的實(shí)際溫度值，從而造成漏檢或誤診斷。尤其對(duì)于檢測(cè)溫升較低的設(shè)備故障時(shí)，這是很不利的。檢測(cè)距離增大，大氣組合的影響將會(huì)越來(lái)越大。而且又要獲得目標(biāo)溫度準(zhǔn)確性，必須采取如下對(duì)策：盡量選擇在環(huán)境大氣比較干燥、潔凈的時(shí)節(jié)進(jìn)行檢測(cè);在不影響安全的條件下盡可能縮短檢測(cè)距離，還要對(duì)溫度測(cè)量結(jié)果進(jìn)行合理的距離修正，以便測(cè)得實(shí)際溫度值。
氣象條件
不良的氣象環(huán)境（雨、雪、霧及大風(fēng)力等），會(huì)對(duì)設(shè)備溫度檢測(cè)帶來(lái)不利的影響，往往會(huì)給出虛假的故障現(xiàn)象。為了減少氣象條件的影響，盡量在無(wú)雨、無(wú)霧、無(wú)風(fēng)和環(huán)境溫度較穩(wěn)定的夜晚進(jìn)行檢測(cè)。
環(huán)境輻射
在進(jìn)行戶外電力設(shè)備紅外檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)儀器接收的紅外輻射除了包括受檢設(shè)備相應(yīng)部位自身發(fā)射的輻射以外，還會(huì)包括設(shè)備其他部位和背景的反射，以及直接射入太陽(yáng)輻射。這些輻射都將對(duì)設(shè)備待測(cè)部位的溫度造成干擾，對(duì)故障檢測(cè)帶來(lái)誤差。為了減少環(huán)境與背景輻射的影響，應(yīng)采取如下對(duì)策措施：對(duì)戶外電氣設(shè)備的現(xiàn)場(chǎng)紅外檢測(cè)，盡可能選擇在陰天或者在日落左右傍晚無(wú)光照時(shí)間進(jìn)行。這樣可以防止直接入射、反射和散射的太陽(yáng)輻射影響，對(duì)戶內(nèi)設(shè)備可以采用關(guān)掉照明燈，以及要避開其他的輻射影響。
對(duì)于高反射的設(shè)備表面，應(yīng)該采取適當(dāng)措施來(lái)減少對(duì)太陽(yáng)輻射及周圍高溫物體輻射的影響。或者改變檢測(cè)角度，找到能避開反射的*角度進(jìn)行檢測(cè)。
為減少太陽(yáng)輻射及周圍高溫背景的輻射影響，可在檢測(cè)時(shí)采取適當(dāng)?shù)恼趽醮胧蛘咴诩t外熱像儀器上加裝適當(dāng)?shù)募t外濾光片，以便濾除太陽(yáng)及其他背景輻射。
選擇參數(shù)適宜的儀器和檢測(cè)距離進(jìn)行檢測(cè)，使受檢測(cè)的設(shè)備部位充滿儀器視場(chǎng)，從而減少背景輻射的干擾。