應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,冶金,航天,制藥,電氣 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
揚(yáng)州供應(yīng)局部放電檢測(cè)儀是根據(jù)當(dāng)今國(guó)內(nèi)外局放儀研究領(lǐng)域的*理論,采用了*技術(shù)和*電路,通過(guò)各地用戶(hù)廣泛試用后的不斷改進(jìn)而成的,它在保留了前幾代產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)和功能的同時(shí),又比前幾代產(chǎn)品在設(shè)計(jì)上更完善,使用上更方便,性能上更可靠。
揚(yáng)州供應(yīng)局部放電檢測(cè)儀性能特點(diǎn):
1.具有檢測(cè)靈敏度高,適用試品范圍廣,信噪比高等特點(diǎn)。
2.采用大屏幕示波管,試驗(yàn)波形顯示清晰,有高頻橢圓掃描(攝取功率小于1伏安),放大系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大,頻帶組合多(九種),有輔助零標(biāo)系統(tǒng),有線(xiàn)性、對(duì)數(shù)雙功能指針式表頭和數(shù)字式表頭,可同時(shí)顯示放電脈沖的放電量。
3.是研究、開(kāi)發(fā)新型高電壓電工產(chǎn)品和提高產(chǎn)品質(zhì)量的有力輔助工具,也是現(xiàn)場(chǎng)判斷設(shè)備正常與否的有效測(cè)試儀器。
4.校正脈沖發(fā)生器配合使用,尤其適合電力部門(mén)、生產(chǎn)制造廠(chǎng)家和科研單位。
技術(shù)參數(shù):
◆可測(cè)試品的電容量范圍: 6pf~250μf
◆檢測(cè)靈敏度:<0.02pc(電容50pf時(shí)).
◆放大器:3db低端頻率f1 10、20、30。50。80kHz任選,3dbgao端頻率fh 100 、200、300、400、500KHz任選。增益調(diào)節(jié)范圍>120db,檔間增益差20±1db。正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱(chēng)性<1db.
◆時(shí)間窗:窗寬1о~360о,窗位置可任意旋轉(zhuǎn);
◆試驗(yàn)電壓表:0-- 200kV,數(shù)字表顯示時(shí)誤差<3%F.S.
◆采集通道:6通道/卡
◆輸入阻抗:1MΩ
◆采集卡采樣率:20MHz
◆分辨率:直流jing確0.2%
◆每通道采樣長(zhǎng)度:8M
◆觸發(fā)方式:手動(dòng)、外觸發(fā)、內(nèi)觸發(fā)
◆采集卡帶寬:3MHz(-3DB)
使用操作注意事項(xiàng)
1. 在試驗(yàn)開(kāi)始加壓以前,試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線(xiàn)路,以免線(xiàn)路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線(xiàn)是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線(xiàn)被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2.對(duì)于連接線(xiàn)應(yīng)避免將暴露在外,防止電暈放電,尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn),必要時(shí)要加粗高壓連接線(xiàn)及加裝防電暈罩,減小因場(chǎng)強(qiáng)過(guò)高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3. 一般情況下,在試驗(yàn)過(guò)程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多,此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿(mǎn)刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿(mǎn)刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí),再將增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測(cè)量值。
4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開(kāi)關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時(shí)針時(shí),量程縮小十倍。
5. 局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)完畢后,應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。