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詳細介紹
日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ
摘要
太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設計用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量。儀器的光譜響應針對太陽光譜進行了優化，并且通過采用具有高靈敏度的檢測器、高效率的分光儀、高效能數據處理程序和軟件，實現了測試的高度精que性。
特點
新設計的電子器件
為了降低溫度和噪聲導致的不穩定，所有的電子回路進行了新的設計，本產品不僅避免了發射的噪聲，而且抑制了回路中的噪聲。
※1. 與SOMA舊的型號的比較
針對太陽模擬器的測試進行了優化
儀器的光譜響應進行了調整，以保證對太陽模擬器的準確測試。為了實現這一特點，儀器在紫外和近紅外區域的噪音水平進行了改善。
脈沖光源的同步測量
上一代產品只能在脈沖開始后對光譜進行測量。本產品能夠在脈沖開始前對光譜進行測試。這一功能稱為事件觸發模式。
事件觸發模式通過采用重新設計的回路和軟件來實現。在這一模式下，儀器對光譜進行連續測試。因此，脈沖前的光譜可以回歸得到，并且也可以得到脈沖后的光譜。計時信號由嵌入反射型擴散板的硅光電二極管產生。計時信號和光強水平可以在0.01~1sun范圍內進行調整。
采用顯著余弦特征的反射型擴散板
尺寸：H15×W60×D80/φ40mm
高持久耐用并且易于保持其特點。本產品具有強的反射和顯著地余弦特征。
注意：當光纖和擴散器更換時，需要對儀器進行重新校準。
光譜匹配評價標準
JIS C 8912-2011/IEC 60904-9(ED-2)-2007 （結晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器）
JIS C 8933-2011（非結晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器）
JIS C 8942-2009 （多結太陽能電池及組件的太陽模擬器）
ASTM（Direct AM1.5、Global AM1.5）-2009
所有標準的太陽模擬器的光譜匹配評價均可實現。
光譜匹配（A,B,C）可以在測試之后立即計算。
日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ
光譜輻照度的測試軟件
測試參數
光譜輻照度（μW/cm2/nm）：測試數據以曲線圖的形式示于顯示器中，文本數據（間隔1nm）也可以得到。
光譜匹配度：數據列表中的任意光譜數據均可以進行評價。所選取的數據的光譜匹配度可以立即示于顯示器中。測試模式
基本測試 主要用于連續光測試
重復測試 可固定時間間隔重復測試
事件引發模式 用于發射脈沖測試，引發脈沖前后的光譜均可得到。
標準測試 通過對比標準發光器的光譜輻照度對產品進行校正。
事件引發模式
事件引發模式檢測器
可以觀察引發脈沖的波形
引發脈沖的光強可以從0.01~1sun范圍內進行調整。調整可以通過拖動滑塊SW方便操作。
可以選擇引發脈沖前后光譜的數目
可以選擇引發脈沖之后延遲的時間
標準配置
主機
附光纖反射型擴散板（L=0.9m）
觸發器線纜（L=0.9m）
光譜輻照度測試軟件
USB線纜（L=2.0m）
交流電適配器（LTE24E-S2-3）
檢驗單
主要規格
型號 | S-2440 model Ⅱ/HIDAMARI mini |
波長 | 300~1100nm |
半波長 | 5nm |
曝光時間 | 1~1000毫秒 |
入射光學系統 | 附光纖反射型擴散板（L=0.9） PTFE φ40mm 光纖（石英，核心φ0.8mm） 注：附光纖反射型散射板無法與主機斷開 |
測試項目 | 分光輻射照度測定（μW/cm2/nm），光譜匹配度評價 光譜匹配度評價標準： JIS C 8912-2011，JIS C 8933-2011， JIS C 8942-2009，IEC 60904-9(ED-2)-2007，ASTM（Direct AM1.5、Global AM1.5）-2009 |
測試模式 | 基本測試 重復測試 事件引發模式 標準測定 |
操作系統 | Windows8/7/Vista（32位，64位） （個人計算機不包括在內） |
交流/直流轉換器 | ADC 16位 |
通訊接口 | USB 2.0 |
數據格式 | CSV文本數據（數據以每1nm輸出） |
數據保存 | 高達1000個光譜數據 |
溫度和濕度 | 10~35℃，相對濕度80%或更低，無凝結 |
電源 | 直流電12V 2A |
功率損耗 | 交流電100~240V 50/60Hz （直流電適配器 LTE24E-S2-3） |
尺寸/重量 | 19（H）×210（W）×（D）/5kg |
選項 | 標準光源裝置，漫反射面固定裝置 |
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