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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 地礦,交通,航天,汽車,電氣 |
|---|
IRMS8599S將光投射到要測量的薄膜上，并通過前表面反射光和后表面反射光的干涉來測量膜厚。膜厚使用以下原理來測量：隨著膜厚的增加，在反射光譜中出現的波（干擾波）的數量增加。無需校準曲線即可進行高精度測量。
產品簡介
詳細介紹
- 配備RS-485通訊和模擬輸出功能
- 連續光譜法可進行FFT分析和CF（曲線擬合）分析
- 同時測量多達4層
- 工作溫度0至50°C，IP65（防塵和防滴結構
型號清單
| 名稱 | 格式 |
|---|---|
| 光學干涉式膜厚計 | IRMS8599S |
*光纖，電纜和附件單獨出售。
規格
| 測量方式 | 可見光近紅外連續光譜 |
|---|---|
| 測量范圍 | 20納米?100微米 |
| 測量波長范圍 | 0.4?1.0微米 |
| 測量距離/直徑 | 10-80mm /φ20mm（平行光筒） 18mm /φ2mm（會聚光筒） 80mm /φ5mm（會聚光筒） |
| 測量間隔 | 10?10,000毫秒 |
| 光源 | 鎢絲燈 |
| 纖維 | 分叉束纖維 |
| 通訊接口 | RS-485 |
| 模擬量輸出信號 | DC 4?20mA（負載電阻500Ω以下） |
| 電源 | 直流24V |
| 能量消耗 | z高150VA |
| 大眾 | 3.5公斤 |
| 防護結構 | 防塵/防濺結構（IP65） |
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日本CHINO千野 光學干涉型膜厚計IRMS8599S
日本CHINO千野 光學干涉型膜厚計IRMS8599S
