產地類別 | 進口 |
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Mirion分段同軸HPGe探測器采用自80年代以來在平面探測器上可用的分割技術(見Gutknecht等人NIM A 288(1990)13-18),以提供來自每個檢測器單元(段)的高質量信息信號,同時利用總檢測量(通常同軸檢測器可用)。
參考價 | 面議 |
更新時間:2019-04-11 10:05:24瀏覽次數:439
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用于伽馬跟蹤,極化測量,多普勒效應校正,β衰減抑制 在不同N型晶體幾何圖形上用光刻(多36段)對外部接觸進行縱向和橫向分割 段間無死區或吸收材料 單片探測器 無可測串擾效應 增加多檢測器系統的粒度 相互作用和伽馬射線的局域化 內核信號與分段接觸信號重合的跟蹤能力
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