目錄:深圳華測儀器有限公司>>材料材質分析儀器>> 硅油涂布量檢測儀EDX-3500
| 應用領域 | 環保,化工,電子,印刷包裝,紡織皮革 | 分析范圍 | 1ppm~100% |
|---|---|---|---|
| 精度 | RSD≤0.05% Au≥90% | 探測器 | 美國進口Amptek探測器SDD |
| 分辨率 | 129±5ev | 測試時間 | 30-100s |
一、產品名稱及型號：硅油涂布量檢測儀EDX-3500
硅油是一種不同聚合度鏈狀結構的聚有機硅氧烷。它是由二甲基二氯硅烷加水水解制得初縮聚環體，環體經裂解、精餾制得低環體，然后把環體、封頭劑、催化劑放在一起調聚就可得到各種不同聚合度的混合物，經減壓蒸餾除去低沸物就可制得硅油。常用的硅油，有機基團全部為甲基，稱甲基硅油。近年來，有機改性硅油得到迅速發展，出現了許多具有特種性能的有機改性硅油。硅油具有很好的耐熱性、電絕緣性、耐候性、疏水性、生理惰性和較小的表面張力，此外還具有低的粘溫系數、較高的抗壓縮性）有的品種還具有耐輻射的性能。
離型膜的硅涂布量是生產過程中質量控制的一個重要方面，涂覆太多，則影響成本。涂覆太少，則粘合層將地粘在基底上。硅油涂布量檢測儀EDX-3500利用x射線熒光光譜分析技術原理對表面涂布硅含量檢測來達到涂布量的生產過程控制，是一種經濟有效的手段。
二、測 試 原 理
通過軟件程序控制，讓 X 射線發生路產生適合的 X 射線去激發測試薄膜材料中的 Si 或者其他元素，被 X 射線激發后變為不 穩定態，高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能量被探測器接收，因每個元素都有自已特定的能量特征線，通過探測器的識別，計算機軟件的計算，即可準確識別該元素，并計算出含量。
儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測器，分辨率能夠達到 125eV, 能分辨Al(鋁)元素和 Si(硅) 元素。
三、技 術 特 點
· 測試采用X射線熒光光譜原理，測試過程無需耗材
· 光管垂直照射，硅元素性能得到更強激發
· 測試下限好，可準確測量 0.01g/m2 的涂硅量
· 采用大面積硅漂移探測器，測試結果極其準確
· 快速采用新的模型算法，大大提高了輕元素的測量穩定性
· 配置高清液晶顯示器，測試過程和測試結果一目了然
· 設備集成多個 usb 接口 , 數據和通訊傳輸滿足多種要求
· 空氣光路內部環境得到顯著優化，大氣環境一樣可以直接測試
· 一鍵測試 / 操作簡單智能，測試過程使用時間更短，結果更準確
四、技 術 參 數
分析范圍：1ppm~100%
精度：RSD≤0.05% Au≥90%
光管管流：0-1000uA
探測器：美國進口Amptek探測器SDD
高壓電源：0-50KV
光管電壓：5-50KV/可選進口光管
分辨率：129±5ev
測試時間：30-100s
五、產 品 優 勢
六、應 用 領 域
各種薄膜、淋膜、離型膜等硅油涂布量的測定
各種薄膜生產過程中Si/Al元素等比量的測定
電子產品保護膜硅油殘余量的測定
電子產品硫化物的殘留量的測定
離型劑研發過程中的應用
1. 通過測試涂布量，探索離型涂層的離型力與涂布量的關系
2. 借助硅涂布量測試儀，可以測試離型涂層的萃取率，研究離型劑產品的固化情況
3. 控制某一個確定的涂布量值，探索其他因素對離型涂層性能的影響
4. 有機硅離型劑出廠前的檢測以及客戶涂布的離型劑紙（膜）的質量監測
硅油涂布量檢測儀EDX-3500
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