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賽默飛Nexsa™ X 射線光電子能譜儀材料分析和開發
Nexsa 能譜儀具有分析靈活性，可最大限度地發揮材料潛能。在使結果保持研究級質量水平的同時，以可選多技術聯合的形式提供靈活性，從而實現真正意義上多技術聯合的分析檢測和高通量。
賽默飛Nexsa™ X 射線光電子能譜儀標準化功能催生強大性能：
· 絕緣體分析
· 高性能XPS性能
· 深度剖析
· 多技術聯合
· 雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展
· 用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
· 用于儀器控制、數據處理和報告生產的 Avantage 軟件
· 小束斑分析
可選的升級：可將多種分析技術集成到您的檢測分析中。式自動運行
· ISS：離子散射譜，分析材料最表面1-2原子層元素信息，通過質量分辨可分析一些同位素豐度信息。
· UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導體材料的價帶能級結構信息以及材料表面功函數信息
· 拉曼：拉曼光譜技術用于提供分子結構層面的指紋信息
· REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結構和帶隙信息
借助 SnapMap 的光學視圖，聚焦于樣品特征。光學視圖可以幫助您快速定位感興趣區域，同時生成聚焦的 XPS 圖像，以進一步設置您的實驗。
1.X 射線照射樣品上的一個小區域。
2.收集來自這一小區域的光電子并將其收集于分析儀
3.隨著樣品臺的移動，不斷收集元素圖譜
4.在整個數據采集過程中監測樣品臺位置，這些位置的圖譜成像用來生成 SnapMap
賽默飛Nexsa™ X 射線光電子能譜儀應用領域
· 電池
· 生物醫藥
· 催化劑
· 陶瓷
· 玻璃涂層
· 石墨烯
· 金屬和氧化物
· 納米材料
· OLED
· 聚合物
· 半導體
· 太陽能電池
· 薄膜
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