R54四探針電阻率測量儀

薄膜電阻率測繪系統

Filmetrics R54是KLA薄膜電阻和導電率測繪系統，從半導體制造到實現可穿戴技術所需的柔性電子產品，薄膜電阻監控對于任何使用導電薄膜的行業都比較重要。R54在功能上針對金屬薄膜均勻性測繪、離子注入表征和退火特性、薄膜厚度和電阻率測量以及非接觸式薄膜厚度測量進行了優化。

系統優勢

• 測試點自定義編輯,包括矩形、線性、極坐標以及自定義配置

• 可選配可容納300毫米圓形或A4（210mm*297mm）樣品

• 導體和半導體薄膜電阻，10個數量級范圍適用

• 接觸式四點探針(4PP)和非接觸式電渦流(EC)配置

• 封閉系統便于測量光敏或者環境敏感樣品

• 支持15mm 樣品高度

• 高精度 X-Y 平臺

應用市場

• 半導體

• *進封裝

• 平板和VR顯示

• 穿戴設備

• 化合物半導體

• 太陽能

• 印刷電路

• 導電材料

RsMapper軟件:

測量自動化地圖模式生成器，內置的地圖模式生成器使您輕松生成需要測量的斑點圖案樣品的相關區域，從而節省了數據采集期間的時間。

這只是您可以使用的一些參數。

進行調整以自定義地圖的屬性:

• 圓形或正方形地圖

• 徑向或矩形圖案

• 中心或邊緣排除

• 點密度