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詳細摘要： Surface Stylus Profilers 探針式表面輪廓儀 P-7KLA是半導體在線檢測設備市場的供應商，在半導體、數據存 儲、 MEMS 、太陽能、光...

詳細摘要： Zeta-20臺式光學輪廓儀是一款緊湊牢固的全集成光學輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能。該系統采用ZDot技術，可同時采集高分辨率3D數據和True Co...

詳細摘要： Filmetrics 已經讓光學輪廓測量變得容易承受。Filmetrics Profilm3D 光學輪廓儀使用垂直掃描干涉技術 （VSI ），結合可選的高精度相...

詳細摘要： 光學表面輪廓儀讓3D光學輪廓測量的價格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術。以低的價格實現次納米級的表面形...

詳細摘要： 光學3d表面輪廓儀讓3D光學輪廓測量的價格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術。以很低的價格實現次納米級的...

詳細摘要： 光學輪廓儀廠家支持3D量測和成像功能，并提供整合隔離工作臺和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統，可實現全自動測量。該系統采用ZDot技術，可同時采集高分辨率3D數據和...

詳細摘要： Zeta-20白光共聚焦是一款緊湊牢固的全集成光學輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能。該系統采用ZDot™技術，可同時采集高分辨率3D數據和Tr...

詳細摘要： P-17臺階儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需...

詳細摘要： P-170臺階儀是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺階高度測量功能，適用于生產環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹...

詳細摘要： Nanosurf 真空環境用原子力顯微鏡AFM產品主要特點:實時在您的真空環境中進行AFM分析方便集成在SEM中進行相關AFM分析兼容于大多數電鏡而不影響SEM...

詳細摘要： NanosurfAFM原子力顯微鏡產品主要特點:高起伏樣品或多個樣品自動納米機械性能分析針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度智能軟件自主處理測量需求...

詳細摘要： Alpha-Step D-500臺階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺階高度。 D-500還可以在研發和生產環境中支持粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 D...

詳細摘要： P-7臺階儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖...

詳細摘要： Profilm3D光學輪廓儀讓3D光學輪廓測量的價格變得更加能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術。以優勢的價格...

詳細摘要： Alpha-Step D-600臺階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D和3D臺階高度。 D-600還可以在研發和生產環境中支持粗糙度、翹曲度和應力的2D和3...