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產品簡介
詳細介紹
EPTX1斯托克斯偏振態檢測儀（以下簡稱'偏振態檢測儀'）是針對單波長光波偏振態測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。
被測光波直接或由光線導入到儀器的測量輸入口，有配套軟件進行自動測量，并即時顯示入射光的斯托克斯參數（S0，S1，S2，S3）、偏振度DOP、偏振態SOP等信息。對于*的偏振光，還能夠形象地顯示入射光的X、Y電矢量分量的振幅和相位關系。
技術特點
靈活的接口
可對自由空間傳播的平行光，以及光纖輸入的光波的偏振態進行檢測。
寬功率適用范圍
光能量輸入的動態范圍為5 nW - 5mW。
偏振態的多種表現形式
顯示形式包括：Stokes參量、Poincaré球、偏振度DOP、橢圓度SOP、電矢量分量。
高精度的檢測靈敏度
*的采樣方法、高穩定的核心器件、高質量的設計和制造工藝實現并保證了高精度的偏振測量結果。
緊湊的一體化結構
集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便儀器使用。
便捷的自動化操作
儀器軟件可自動完成品測量，并即時顯示測量數據。偏振態的實時顯示
實現顯示偏振態及其變化，生動形象，易于教學，便于理解。應用領域
EPTX1斯托克斯偏振態檢測儀可對各種光波的偏振態進行測量，包括：自然光、部分偏振光、*偏振光（包括：一般橢圓偏振光、圓偏振光、線偏振光）。
可進行：（1）靜態測量：靜態下光源偏振態的分布及變化；（2）實時測量：隨時間的變化，光源偏振態的變化規律。
可對各種光源的偏振態進行測量，包括：（1）激光光源：He-Ne激光器、YAG激光器、半導體激光器等；（2）近自然光源：氙燈 、鹵鎢燈、氘燈、LED燈等；（3）其它光源：天體宇宙光。
可對影響偏振態變化的材料進行研究，包括：（1）塊狀材料；（2）薄膜材料等。
技術指標
項目 | 技術指標 |
波長 | 632.8nm |
其它波長可按要求定制 | |
功率范圍 | 5uW - 5mW |
單次測量時間 | 典型：0.5 s / 次（可根據需要更高） |
偏振度DOP準確度1） | ±2% |
偏振度DOP分辨率1） | 0.01 |
偏振態SOP準確度1） | ±0.5° （對Poincaré Sphere） |
偏振態SOP分辨率1） | 0.05° （對Poincaré Sphere） |
自由傳輸時的通光孔徑 | Φ3 mm |
選配件 | 光纖輸入套件：標準SMA905，FC / PC 單色濾光片 |
注：1）與光源穩定性相關。