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當前位置：上海維特銳實業發展有限公司二部>>歐美工業傳感器備件>>德國E+H>> 原裝E+H光譜分析儀常見分類方法
| 應用領域 | 交通,印刷包裝 |
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E+H光譜分析儀的種類繁多，常見的分類方法如下：
按工作光譜的區域分類：紫外-可見光(UV-VIS)光譜儀、可見光(VIS)光譜儀、紫外-可見光-近紅外(VIR)光譜儀等類型
按分光系統分類：棱鏡分光光譜儀、光柵分光光譜儀、濾色片分光光譜儀
按光路數量分類：單路光譜儀、多路光譜儀
按探測器分類：在可見光范圍內主要有PMT光譜儀和CCD光譜儀兩種，在紫外、近紅外范圍內還有專門的探測器類型
按掃描方式分類：機械掃描式光譜儀、快速掃描式光譜儀
按測量對象和測量結果的用途分類：分析用光譜儀、光色測量用光譜儀
在照明行業，通常使用的都是可見光光色測量光譜儀，又細分為機械掃描式和陣列掃描式兩種
單色儀有入射和出射兩個狹縫，入射狹縫用來限制雜散光的進入，一般位于準直鏡的焦點上。出射狹縫用來限制光譜帶寬，一般位于物鏡的焦點上。狹縫通常由兩個具有銳利刀口的精密金屬片構成，分為固定狹縫、單邊可調非對稱式狹縫和雙邊可調對稱狹縫幾種。用于光色測量的亮度計中，兩個狹縫通常設計為等寬，且不能自行調節。在用于材料分析的亮度計中，狹縫往往設計成可由儀器自動調節寬度。
E+H光譜分析儀一般由分光系統、接收系統和數據處理系統組成，其工作原理是將光源發出的復色光按照不同的波長分離出來，配合各種光電探測器件對譜線強度進行測量，獲得光譜功率(輻射)分布，再計算出色品坐標、色溫、顯色指數、光通、輻射通量等光色性能參數。
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