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EMF-827 ELECTROMAGNETIC FIELD TESTER
with separate probe EMF TESTER
1.測量範圍：
20.00/200.0/2000 micro Tesla
200.0/2000/20000 milli Gauss
2.精確度：±4%（50/60Hz）
3.測量頻寬：30Hz~300
產品簡介
詳細介紹
EMF-827 電磁波測試器-高斯計EMF-827 ELECTROMAGNETIC FIELD TESTER with separate probe EMF TESTER1.測量範圍： 20.00/200.0/2000 micro Tesla 200.0/2000/20000 milli Gauss2.精確度：±4%(50/60Hz)3.測量頻寬：30Hz~300Hz4.採分離式設計，方便測量讀取5.應用範圍廣泛，可測量電腦螢幕， 視聽系統，家電設備，醫療設備， 電力系統等所產生之電磁波6.尺寸：163X68X24mm☆1 micro Tesla=10 milli Gauss☆磁通量密度、磁感應強度：Tesla特斯拉☆磁場單位：Gauss高斯☆EMI安全檢測必備
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