渦流陣列的優(yōu)勢

同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列優(yōu)勢：

·檢測時間大幅度降低。

·單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。

·減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復雜性。

·提供檢測區(qū)域實時圖像，便于數(shù)據(jù)的判讀。

·很好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。

·改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）

·渦流陣列腐蝕檢測

在飛機結構壽命評估領域，腐蝕是其主要威脅。結構層間積累的濕氣將導致出現(xiàn)隱蔽的腐蝕，如果不被發(fā)現(xiàn)，將導致多部位的損傷。而在役檢測中，渦流檢測技術能夠滿足這樣的檢測

渦流檢測技術通過探頭線圈產(chǎn)生電磁場，并在導電材料中產(chǎn)生渦流場，當有缺陷存在時，材料中的渦流場被擾動，并被探頭線圈接收到，形成渦流信號。

 

常規(guī)渦流技術也可以用于多層結構腐蝕檢測，通過單一線圈的渦流探頭在工件表面做光柵掃查，來顯示可能的腐蝕缺陷。

 

常規(guī)渦流檢測使用低頻渦流點式探頭，頻率范圍100Hz至50kHz。下面是渦流信號在5%，10%和20%的材料損失率試塊上的檢測結果。材料損失越嚴重，信號幅值越高。

 

渦流陣列技術，使用多線圈渦流探頭，可形成C掃圖像顯示。渦流陣列探頭支持32線圈，既可以是橋式，也可以是反射式。操作頻率范圍20Hz至6MHz，并可多頻信號同時采集。

 

下面是多層鋁合金試樣的截面示意圖，紅色區(qū)域代表外層蒙皮和底面之間的腐蝕區(qū)。

 

比較常規(guī)渦流的平面阻抗圖結果和渦流陣列檢測結果，相比于平面阻抗圖顯示結果，渦流這列檢測結果更加直觀，并可顯示腐蝕區(qū)域，評估缺陷尺寸，因而對維修人員維修受損部位起到很大的幫助作用。

 

采集原始數(shù)據(jù)以后可以對數(shù)據(jù)進行后處理，并可對數(shù)據(jù)進行進一步的分析。

 

下面是1.6mm厚度鋁合金試樣的檢測結果，上面有19mm，12.7mm和6.35mm三種不同直徑尺寸的缺陷。

 

先看19mm直徑缺陷，不同腐蝕損失率的檢測結果。

 

下面是12.7mm直徑缺陷不同材料損失率的檢測結果。

 

下面是6.35mm直徑缺陷在不同材料損失率下的檢測結果。

 

下圖是檢測1.27mm壁厚下層板，加1.60mm厚上層板，并在上面加工了12.7mm直徑的缺陷，上層板缺陷材料損失率為20%、10%和5%，下層板缺陷材料損失率為5%和10%。

 

 

下圖是在實際飛機蒙皮下腐蝕的檢測結果，圖中可以清晰看到缺陷位置，并可測量其尺寸。

 

渦流陣列檢測技術，相比于常規(guī)渦流技術，有著許多的優(yōu)勢，包括成像直觀、可尺寸測量、數(shù)據(jù)可長久儲存等優(yōu)點，是Al多層板腐蝕檢測的理想檢測技術。