目錄:廣東歐可檢測儀器有限公司>>PCT/HAST高壓老化試驗箱>>PCT高壓加速老化試驗箱>> 光纖pct老化試驗箱
產地類別 | 國產 | 應用領域 | 電子,航天,汽車,電氣 |
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光纖pct老化試驗箱產品滿足標準
1、GB/T10586-1989濕熱試驗室技術條件;
2、GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗;
3、MIL-STD810D方法502.2;
4、GJB150.9-8溫濕試驗;
5、GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環試驗;
pct老化試驗箱特性:
1、試驗過程自動運轉至完成結束、使用簡便。
2、雙重過熱保護裝置,當鍋內溫度過高時,機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源。
3、LED數字型溫度控制器可作試驗溫度之設定、控制及顯示,PID控制誤差±0.1℃。
4、LED數字型定時器,當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗*。
5、壓力、溫度對照顯示。
6、運轉時流水器自動排出未飽和蒸汽以達到蒸汽質量。
7、試驗過程中水位不足時能自動補充水位之功能,試驗不中斷,確保使用。
8、鍋內裝置,鍋門若未關緊則機器無法啟動。
9、閥,當鍋內壓力超過工作值自動排氣泄壓。
10、門蓋保護,ABS材質制成可防止操作人員接觸燙傷。
光纖pct老化試驗箱產品用途:
pct老化試驗箱又稱為高壓加速老化試驗箱,適用于國防、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測,相關之產品作加速壽命試驗,使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。pct老化試驗箱的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間.