產品簡介
詳細介紹
Fluke 9170 高精度干式計量爐*使用了雙段控溫的技術。傳統的爐子在軸向(垂直方向)的溫度場很難做到均勻,越接近爐口溫度變化就越大。
技術指標 | Fluke 9170 | Fluke 9171 | Fluke 9172 | Fluke 9173 | |
溫度范圍 (環境溫度23℃時) | -45℃~140℃ | -30℃~155℃ | 35℃~425℃ | 50℃~700℃ | |
顯示準確度 | ±0.1℃(全溫范圍) | ±0.1℃@100℃ ±0.15℃@225℃ ±0.2℃@425℃ | ±0.2℃@425℃ ±0.25℃@660℃ | ||
穩定性 | ±0.005℃(全溫范圍) | ±0.005℃(至100℃) ±0.008℃(至225℃) ±0.01℃(至425℃) | ±0.005℃(至100℃) ±0.01℃(至425℃) ±0.03℃(至700℃) | ||
軸向均勻性 (60 mm) | ±0.1℃@-45℃ ±0.04℃@-35℃ ±0.02℃@0℃ ±0.07℃@140℃ | ±0.025℃@-30℃ ±0.02℃@0℃ ±0.07℃@155℃ | ±0.05℃@100℃ ±0.1℃@225℃ ±0.2℃@425℃ | ±0.1℃@100℃ ±0.25℃@425℃ ±0.4℃@700℃ | |
徑身均勻性 | ±0.01℃(全溫范圍) | ±0.01℃@100℃ ±0.02℃@225℃ ±0.025℃@425℃ | ±0.01℃@100℃ ±0.025℃@425℃ ±0.04℃@700℃ | ||
負載影響(參考溫度計和三支被測,直徑均為6.4mm) | ±0.02℃@-45℃ ±0.005℃@-35℃ ±0.01℃@140℃ | ±0.005℃@-30℃ ±0.005℃@0℃ ±0.01℃@155℃ | ±0.01℃(全溫范圍) | ±0.02℃@425℃ ±0.04℃@700℃ | |
遲滯 | 0.025℃ | 0.04℃ | 0.07℃ | ||
井深 | 160 mm | 203 mm | |||
插塊直徑 | 32mm | ||||
分辨率 | 0.001℃ | ||||
顯示 | LCD,℃ 或 ℉,用戶可選 | ||||
鍵盤 | 十個數字鍵和+/-鍵,功能鍵,菜單鍵和℃或°F鍵 | ||||
降溫時間 | 44 min:23℃降至-45℃ 19 min:23℃降至-30℃ 19 min:140℃降至23℃ | 30 min:23℃降至-30℃ 25 min:155℃降至23℃ | 220 min:425℃降至35℃ 100 min:425℃降至100℃ | 235 min:700℃降至50℃ 153 min:700℃降至100℃ | |
升溫時間 | 32 min:23℃升至140℃ 45 min:-45℃升至140℃ | 44 min:23℃升至155℃ 56 min:-30℃升至155℃ | 27 min:35℃升至425℃ | 46 min:50℃升至700℃ | |
外形尺寸(高×寬×厚) | 366 x 203 x 323 mm | ||||
重量 | 15 kg | 15 kg | 13.2 kg | 15 kg (33 lb) | |
電源 | 230 VAC(±10%),3.15 A | 230 VAC(±10%),5 A | |||
校準點(可溯源至NIST) | -45℃,0℃,50℃,100℃,140℃ | -30℃,0℃,50℃,100℃,155℃ | 100℃,150℃,250℃,350℃,425℃ | 100℃,200℃,350℃,500℃,660℃ | |
技術指標 | 內置參考測溫儀 | ||||
溫度范圍 | -200℃~962℃ | ||||
電阻范圍 | 0Ω~400Ω | ||||
特性系數 | 標準溫度計:ITS-90子范圍4,6,7,8,9,10,11;工業鉑電阻溫度計(CVD) :R0,α,β,δ | ||||
電阻準確度 | 0.0005Ω (0Ω至20Ω) 25ppm (20Ω至400Ω) | ||||
溫度準確度 (不含探頭不確定度) | 10Ω PRTs: ±0.013℃@0℃ ±0.014℃@155℃ ±0.019℃@425℃ ±0.028℃@700℃ | 25Ω和100ΩPRTs: ±0.007℃@-100℃ ±0.006℃@0℃ ±0.011℃@155℃ ±0.013℃@225℃ ±0.019℃@425℃ ±0.027℃@661℃ | |||
電阻分辨率 | 0.0001Ω:(0Ω至20Ω);0.001Ω:(20Ω至400Ω) | ||||
測量周期 | 1 秒 | ||||
探頭連接 | 四端子外加屏蔽端;5針DIN連接插座 | ||||
校準 | NVLAP認可(限內部參考測溫儀),提供可溯源至NIST的校準證書 |