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產品簡介
集ROHS有害元素分析、金屬元素分析、電鍍層厚度分析、全元素分析于一體。可同時分析樣品中25種金屬成份
詳細介紹
名稱/型號： | X熒光光譜儀EDX-1200 |
產品特點: l集ROHS有害元素分析、金屬元素分析、電鍍層厚度分析、全元素分析于一體的測試軟件 l電鍍層可以是鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍錫、鍍鋅等鍍層 l*的MLSQ-FP分析軟件可以內置無限多標樣數據，極大的提高了測試精度和測試范圍 l采用多道脈沖分析器 l一次可同時分析樣品中25個金屬的含量極成分 l軟件支持無標樣分析，無標樣條件下誤差小于1%，可任意進行定性定量分析，使用靈活 l直觀的分析譜圖,元素分布一目了然 l物理測量，不改變樣品性質分析樣品不被破壞，被測樣品可以是固體、粉末、液體等 l具有多種光譜擬合分析處理技術 1）Smooth(波峰光滑處理) 2）Pickup Removal(拾取峰去除) 3）Escape peak(逃逸峰處理) 4) Background Removed(背景去處) 5) Blank Subtraction(空白峰位去除) 6) Compton Peak(康普頓波峰處理) 7) Deconvolute(去卷積積分處理)
技術指標 l測量元素范圍：11（Na）~ 92 (U) l膜厚分析精度：0.05um l元素含量分析范圍：1ppm—99.99% l多次測量重復性誤差小于0.1% l長期工作穩定性誤差小于0.1% l檢測時間：100-120秒 l樣品腔尺寸：190×190×54mm l工作環境溫度：15-30℃ l工作環境濕度：≤65% l工作電壓：AC220V（建議使用者配UPS穩壓電源）
標準配置 光譜儀主機 計算機 準直器 載物片 操作手冊
應用領域 RoHS、金屬膜厚度、工業鍍層厚度測量、冶煉、玩具、無鹵化分析、電子電器、土壤、催化劑、礦石、原材料成份分析等 | |