產品簡介
詳細介紹
本儀器可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍,實現UV-VIS-NIR波段連續(xù)掃描,其應用領域廣泛,可測量固體/液體樣品在紫外-可見-近紅外范圍內的特征吸收;可研究玻璃鍍膜樣品吸收/透射或反射光譜;可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區(qū)的吸收譜圖、還可測定核酸/蛋白等物質的含量或檢測酶的活性等等,適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等等行業(yè),是功能zui強勁的光譜分析儀器。
- 儀器特點:
- 采用經典的Czerny-Turner光學結構,其結構簡單、精度高、光譜分辨率良好;
- 采用雙光柵、雙接收器的設計,保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區(qū)(UV-VIS-NIR)全波段的優(yōu)勢;
- 接收器件均為進口器件,保證了儀器的高性能和穩(wěn)定度;
- 儀器的控制(如光柵轉換、濾光片轉換、接收器轉換、波長掃描等)全部由計算機控制,接口為 USB2.0,儀器的連接簡單,*的提高了通訊速率;
- 狹縫寬度7檔可選,分別是(0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm)。用戶可根據實際需要任意選擇。
- 全中文操作軟件,功能選擇簡單、易懂。
- 規(guī)格參數:
工作波長范圍 | 190-2800nm |
掃描方式 | 透過率、吸光度、反射率、能量 |
波長準確度 | ±0.5nm(UV/VIS);±4nm(NIR) |
波長重復性 | 0.3nm(UV/VIS); ±4nm(NIR) |
采樣間隔 | 0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm |
光度范圍 | 0.300~2.5A |
光度準確度 | ±0.3%T(0-*T) |
光度重復性 | 0.2%T |
基線平直度 | ±0.008A(200-2500nm,預熱30分鐘后) |
光譜帶寬 | 0.2nm-10nm |
雜散光 | ≤0.2%T(220nm) |
外形尺寸 | 830*600*260mm |
- 軟件功能介紹:本儀器工作軟件具有豐富的測試分析功能,可進行透過率、吸光度、能量、反射率測量。具有光譜掃描、定點測量、多波長測量的功能。
?
- 儀器成套性:
紫外可見近紅外分光光度計主機、USB數據線、石英比色皿、擋零塊、應用軟件、配套工具等
* 用戶需自備計算機、打印機。
- 儀器可選附件:
- TP-720紫外可見近紅外分光光度計反射附件。
- TP-720紫外可見近紅外分光光度計固體樣品測量附件。