詳細(xì)介紹
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概述
X熒光分析儀(或稱(chēng)X熒光光譜儀)是公司集數(shù)十年X熒光分析儀的研究經(jīng)驗(yàn),在公司原有的系列X熒光鈣鐵分析儀、測(cè)硫儀、鋁硅分析儀、多元素分析儀等的基礎(chǔ)上研制推出的一種達(dá)到水平的分析儀器。儀器采用了能量色散X射線熒光(EnergyDisperseXRayFluorescence)(EDXRF)分析技術(shù),能分析從鋁(原子序數(shù)13)到鈾(原子序數(shù)92)的所有元素,對(duì)大多數(shù)元素分析的含量可低至1ppm高至*,還能進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量。具有分析速度快、精度高、人為誤差小、操作簡(jiǎn)便、只需一次性投資、無(wú)污染等特點(diǎn),故廣泛應(yīng)用于電子電氣、建材、冶金、石油、化工、地質(zhì)、礦山等各行各業(yè)。
對(duì)于RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、飾等中有害元素及無(wú)鹵化中鹵素的測(cè)量,目前有多種方法,但絕大部分的測(cè)量方法都非常煩瑣,特別是制樣那更是復(fù)雜,且時(shí)間很長(zhǎng),又污染環(huán)境。而X熒光分析法雖然準(zhǔn)確度較差,但它分析速度快、操作簡(jiǎn)單、無(wú)污染、制樣方便或根本無(wú)需制樣,能對(duì)絕大部分產(chǎn)品作出正確判定,而少量不能判定的產(chǎn)品再用其他方法,從而達(dá)到先篩選的目的,使測(cè)量方便了許多。所以X熒光分析法作為RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、飾等中有害元素及無(wú)鹵化中鹵素測(cè)量的篩選法,得到*所有國(guó)家的確認(rèn)。如我國(guó)*zui近頒布了六個(gè)有關(guān)RoHS的檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn),其*個(gè)標(biāo)準(zhǔn)就是:SN/T2003.1-2005《電子電氣產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、鉻、溴的測(cè)定*部分:X射線熒光光譜定性篩選法》。對(duì)每一個(gè)需要測(cè)量RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、飾等中有害元素及無(wú)鹵化中鹵素的單位,X熒光分析儀是*的。
X熒光分析儀是本公司諸多X熒光分析儀中一款專(zhuān)門(mén)針對(duì)RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、飾等中有害元素及無(wú)鹵化中鹵素的測(cè)量而設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品。它采用X光管激發(fā),光管高壓的電壓和電流連續(xù)可調(diào),具有多個(gè)濾色片和準(zhǔn)直器并可自動(dòng)轉(zhuǎn)換,能使儀器達(dá)到zui高的激發(fā)效率、*的計(jì)數(shù)率和zui高的峰背比,從而有的精度和很小的檢出限;它采用高分辨率的PIN半導(dǎo)體探測(cè)器,有效避免元素的相互干擾;它采用內(nèi)標(biāo)方法及具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的分譜技術(shù),在無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析樣品;它的樣品室體積達(dá)480mm×350mm×125mm,能測(cè)量大件物品;它的設(shè)計(jì)對(duì)屏蔽防護(hù)*,無(wú)三廢公害;其測(cè)量準(zhǔn)確度及檢出限達(dá)到進(jìn)口同類(lèi)儀器的水平,而價(jià)格只是進(jìn)口同類(lèi)儀器的幾分之一,特別適合我國(guó)國(guó)情。
憑借著本公司數(shù)十年X熒光分析儀的研究經(jīng)驗(yàn),憑借著本公司數(shù)十年在X熒光分析領(lǐng)域的良好口碑和重要地位,我們相信: X熒光分析儀定將得到廣大需要測(cè)量RoHS指令、ELV指令、玩具、包裝、飾等中有害元素及無(wú)鹵化中鹵素的單位的認(rèn)可,成為國(guó)外同類(lèi)產(chǎn)品的替代品,為我國(guó)的檢測(cè)事業(yè)和環(huán)境保護(hù)作出一定的貢獻(xiàn)。
特點(diǎn):
1.采用EDXRF物理分析方法,分析中不接觸、不破壞樣品,無(wú)需化學(xué)試劑等其他輔助材料。
2.多元素同時(shí)快速分析,一般幾分鐘給出Cl氯、鉻Cr、砷As、硒Se、溴Br、鎘Cd、銻Sb、鋇Ba、汞Hg、鉛Pb等元素的ppm含量結(jié)果。
3.采用X光管激發(fā),光管高壓的電壓和電流可調(diào),使儀器達(dá)到zui高的激發(fā)效率和*的計(jì)數(shù)率。。
4.具有4個(gè)濾色片和4個(gè)準(zhǔn)直器,可任意自動(dòng)轉(zhuǎn)換組合,使儀器達(dá)到*的計(jì)數(shù)率和zui高的峰背比,從而有的精度和很小的檢出限。
5.采用高分辨率的PIN半導(dǎo)體探測(cè)器,有效避免元素的相互干擾。
6.采用高分辨率的CCD攝像頭,樣品平臺(tái)可移動(dòng),從而保證測(cè)量目標(biāo)位置的準(zhǔn)確。
7.由計(jì)算機(jī)進(jìn)行顯示、操作和數(shù)據(jù)處理,從而使操作簡(jiǎn)便,分析快速準(zhǔn)確。
8.儀器集成化程度高,可靠性好,維修方便。環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng),長(zhǎng)期穩(wěn)定性好。
9.采用內(nèi)標(biāo)方法及具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的分譜技術(shù),在無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析樣品。
10.樣品室體積大,能測(cè)量大件物品。
11.價(jià)格功能比低,適合我國(guó)國(guó)情。
12.設(shè)計(jì)對(duì)屏蔽防護(hù)*,無(wú)三廢公害,射線防護(hù)安全可靠。
主要技術(shù)指標(biāo)
1.分析元素種類(lèi):Cl氯、鉻Cr、砷As、硒Se、溴Br、鎘Cd、銻Sb、鋇Ba、汞Hg、鉛Pb等。
2.有害元素及鹵素含量分析范圍:5~3000ppm。
3.系統(tǒng)分析時(shí)間:300s(典型值)。
4.分析精度:理想狀態(tài)下,測(cè)量精度為2~3ppm;
一般狀態(tài)下,測(cè)量相對(duì)誤差為10%。
5.檢出限:≤2ppm。
6.X射線光管:高壓:≤50kV,電流:≤1mA,均連續(xù)可調(diào)。
7.準(zhǔn)直器:Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4個(gè)可自動(dòng)切換。
8.系統(tǒng)能量分辯率:對(duì)于MnK5.9keV的X射線,其半高寬:≤155eV。
9.長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定性:開(kāi)機(jī)1小時(shí)后,整機(jī)8小時(shí)穩(wěn)定性:峰位和峰面積相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差均小于0.1%。
10.樣品室體積:長(zhǎng)×寬×高:480mm×350mm×125mm。
11.使用條件:環(huán)境濕度:5~30℃,相對(duì)濕度≤80%(25℃),供電電源:220±20V,50Hz。
12.整機(jī)功耗:≤150W。
13.尺寸與重量:長(zhǎng)×寬×高:503mm×412mm×478mm;重量:45Kg。