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[供應(yīng)]GDAT-A-塑料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
1．測試裝置使用結(jié)束后，請及時關(guān)閉液晶顯示屏的電源，可延長電池的壽命。如果電池發(fā)出電壓低報警，應(yīng)及時更換電池保證測量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時針旋轉(zhuǎn)約45°，既可取下十字蓋冒，更換電池。
2．本測試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測微設(shè)備，所以在使用和保存時要避免振動和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存，用戶不能自行拆裝，否
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點(diǎn)：
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨(dú)立信號 源輸出口，所以本機(jī)又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率
可調(diào)電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀概述
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀對絕緣材料進(jìn)行高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（損耗角正切值）的測試。916介質(zhì)損耗測試裝置采用了帶數(shù)顯的微測量裝置，因而在測試時，讀數(shù)更直觀方便，數(shù)據(jù)更精確。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀工作特性
- 平板電容器：
極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀工作原理
本測試裝置主要由一個數(shù)顯的微測量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成，平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數(shù)顯的微測量裝置，用于顯示被測材料樣品的厚度。配用Q表作為調(diào)諧指示儀器，通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時的Q值變化，可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。
被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會使測試精度下降，樣品要盡可能平直。
- 注意事項：
1． 測試裝置使用結(jié)束后，請及時關(guān)閉液晶顯示屏的電源，可延長電池的壽命。如果電池發(fā)出電壓低報警，應(yīng)及時更換電池保證測量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時針旋轉(zhuǎn)約45°，既可取下十字蓋冒，更換電池。
2．本測試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測微設(shè)備，所以在使用和保存時要避免振動和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存，用戶不能自行拆裝，否則其工作性能就不能保證，如測試夾具受到碰撞，可以送生產(chǎn)廠家定期檢查，要檢測以下幾個指標(biāo)：
- 平板電容器二極片平行度在0-5mm間連續(xù)不超過0.05 mm。
- 圓筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。
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