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詳細摘要：介電常數介質損耗試驗儀滿足標準：GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法 產品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數介質損耗測試儀滿足標準：GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法 產品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數介質損耗測試儀特點 1、《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統的核心檢測部件，它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。 產品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數介質損耗試驗儀滿足標準：GBT1409-2006 產品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：主要用于測量高壓工業絕緣材料的介質損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經典線路。 主要可以測量電容器，互感器，變壓器，各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質損耗( tg)和電容量( Cx)以，其測量線路采用“正接法"即測量對地絕緣的試品。 產品型號：BDAT-B所在地：北京海淀上地十街輝煌國際6號樓4層0426室 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產品型號：GDAT-A所在地：北京海淀上地十街輝煌國際6號樓4層0426 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數介質耗損測試儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產品型號：GDAT-A所在地：北京海淀上地十街輝煌國際6號樓4層0426 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數試驗儀主要特點： 空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低。 產品型號：GDAT-A所在地：北京海淀建材城西路50號 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗角測試儀型號：GDAT-A主要特點：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產品型號：GDAT-A所在地：北京市海淀區上地十街輝煌國際西6號樓4層0426 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數介質損耗是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產品型號：GDAT-A所在地：北京市海淀區上地十街輝煌國際西6號樓4層0426 參考價：面議
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詳細摘要：滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法 產品型號：所在地：北京市海淀區建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數測試儀 產品型號：所在地：北京市海淀區建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：主要用于測量高壓工業絕緣材料的介質損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經典線路。 產品型號：所在地：北京市海淀區建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產品型號：所在地：北京市海淀區建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產品型號：所在地：北京市海淀區建材城西路50號 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數介質損耗測試儀專業供應商，如需請致電詳談。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：c類數顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以夾具BH916介質損耗裝置還能對固態絕緣材料的高頻介質損耗（tanδ）和介電常數(ε)，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等進行測試。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數測試儀 產品型號：GDAT-A所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：北京北廣精儀儀器設備有限公司專業生產介電常數測試儀，： ， 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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北京北廣精儀儀器設備有限公司主營產品：絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀-高壓電橋法介電常數測試儀-高電壓擊穿強度試驗儀
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