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詳細摘要：高頻介質損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的Z佳解決方案。 產品型號：GDAT-C所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產品型號：GDAT-a所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產品型號：GDAT-c所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗因數試驗儀/介電常數測試儀 滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法 產品型號：gdat-c所在地：北京 參考價：面議
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詳細摘要：主營工頻介電常數介質損耗測試儀主要用于測量高壓工業絕緣材料的介質損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經典線路。 產品型號：BQS-37所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：RS232 儀器具有RS232接口，與計算機連接便于數據的統計和處理及保存。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：本儀器優質，無可挑剔。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：儀器*符合并優于國家標準GB1410《固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法》和美國標準ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》等標準的要求。本儀器是既可測量高電阻，又可測微電流。 產品型號：所在地：北京市海淀區建材城 參考價：面議
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詳細摘要：主要技術特性：介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。 產品型號：所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數測量儀電容率測試儀之比。對于電抗元件（電感或電容）來說，即在測試頻率上呈現的電抗與電阻之比。它以89C51單片計算機作為控制核心，實現對各種功能的控制。壓控信號源為Q值測量提供了一個優質的高頻信號，頻率從25kHz-50MHz，共分為七個波段。信號源的頻率受頻率調諧和數字鎖定單元的控制。信號源輸出一路送到程控衰減器和自動穩幅控制單元，該單元根據CPU的指令對信號衰減后送回信號激勵單元，同時 產品型號：GDAT所在地：北京市海淀區建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：abc型介電常數/介質損耗儀儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。 產品型號：GDAT-A所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：北廣介質損耗測試儀廠家本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電，使用前要檢查市電電壓 是否合適，采用穩壓電源，以保證測試條件的穩定。 產品型號：GDAT-A所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：廣東介電常數測試儀介質損耗是用于衡量絕緣體儲存電能的性能. 它是兩塊金屬板之間以絕緣材料為介質時的電容量與同樣的兩塊板之間以空氣為介質或真空時的電容量之比。 產品型號：GDAT-A所在地：北京北廣精儀 參考價：面議
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詳細摘要：北廣介電常數測定儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數 產品型號：BQS-37A所在地：北京市海淀區 參考價：面議
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詳細摘要：介質損耗角正切測試儀主要特點： 空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 日本AET 公司針對CCL/印刷電路板設計空洞共振腔測試裝置 , 只需裁成小長條狀即 產品型號：BDAT-A所在地：北京市海淀區建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：介電常數介質損耗角正切測試儀空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測值偏低,。 產品型號：BQS-37A所在地：北京市海淀區建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：專業生產介電常數介質損耗測試儀專業空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測值偏低,。 產品型號：BDAT-A所在地：北京市海淀區建材城西路 參考價：面議
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詳細摘要：專業生產介電常數測定儀全自動抗干擾介質損耗測試儀是一種新穎的測量介質損耗角正切值（tgδ）和電容值（Cx）的智能化儀 介質損耗測試儀圖片 產品型號：BDAT-A所在地：北京市 參考價：面議
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北京北廣精儀儀器設備有限公司主營產品：絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀-高壓電橋法介電常數測試儀-高電壓擊穿強度試驗儀
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