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重慶高低溫老化柜SPL重慶試驗箱

P系列代表的是采用Q8-902中英文彩色觸摸屏式人機界面(畫面對談式)電腦控制的可程式恒溫恒濕試驗箱.可選配USB曲線記錄,數據儲存裝置.

重慶高低溫老化柜試驗箱

宏展擁有一個專業從事環境試驗設備研發的科研機構，具備成熟的環試研制手段與試驗室，聚集了行業內一批優秀的各類人才和專家，強大的研發團隊著國內環試技術發展方向．現目前，公司具有自主知識產權的高低溫試驗箱、高低溫濕熱試驗箱、快速溫度變化試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、三綜合試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、太陽輻射試驗箱、工業烤箱以及步入式高低溫濕熱試驗箱和高風速淋雨試驗箱等氣候環境試驗設備及訂制產品處于國內、*水準！

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執行與滿足標準
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件；
2.GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術條件；
3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件；
4.GB2423.1-89低溫試驗Aa，Ab ；
5.GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗Ca；
6.MIL-STD810D方法502.2；
7.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
8.GJB150.9-8 濕熱試驗；

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*溫度控制
可實現溫度定值控制和程序控制；
全程數據記錄儀（可選功能）可以實現試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~*自動調節壓縮機制冷功率，較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關鍵配件均采用產品，使設備的整體質量得到了提升和保證；

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此款產品不帶濕熱，如需濕熱，我們有具體的參數規格，請致電，我們公司是自制研發公司，與國外技術結合，我們在行業內十余年得到了客戶的認可，更希望您也能認可我們，您的選擇也是給我們一個機會，同時您也多一個抉擇。

參考標準： 

MIT-STD-883E Method 1011.9 

JESD22-B106

EIAJED- 4701-B-141 

* TCT與TST的區別在于TCT偏重于package 的測試，而TST偏重于晶園的測試 

⑦HTST: 高溫儲存試驗（High Temperature Storage Life Test ）

目的: 評估IC產品在實際使用之前在高溫條件下保持幾年不工作條件下的生命時間。 

測試條件: 150℃ 

失效機制：化學和擴散效應，Au-Al 共金效應 

參考標準: 

MIT-STD-883E Method 1008.2 

JESD22-A103-A 

EIAJED- 4701-B111 

⑧可焊性試驗（Solderability Test ）

目的: 評估IC leads在粘錫過程中的可靠度 

測試方法: 

Step1：蒸汽老化8 小時 

Step2：浸入245℃錫盆中 5秒 

失效標準（Failure Criterion）：至少95％良率 

具體的測試條件和估算結果可參考以下標準 

MIT-STD-883E Method 2003.7 

JESD22-B102 

⑨SHT Test:焊接熱量耐久測試（ Solder Heat Resistivity Test ）

目的: 評估IC 對瞬間高溫的敏感度 

測試方法: 侵入260℃ 錫盆中10秒 

失效標準（Failure Criterion）：根據電測試結果 

具體的測試條件和估算結果可參考以下標準 

MIT-STD-883E Method 2003.7 

EIAJED- 4701-B106

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