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什么是測量方法?測量方法有哪些?測量顯微鏡常識
金相顯微鏡
什么是測量方法?測量方法有哪些?測量顯微鏡常識
所謂測量方法，是指測量過程中所用的量具或計量儀器和
測量條件的總和，包括比較的方式(測量原理)等。具休包括以下
幾點:①具有一定精度指標的量具和計zui儀器;②被測零件的特
性及其參數特點;⑧標準件;④測員基面及其定位形式;⑤瞄準
形式;⑥測量力和接觸形式;⑦測量的客觀條件(溫度、濕度等)。
測量顯微鏡測量方法有以下幾種:
(1)直接測量和間接測量
從獲得測員結果的方式不同，測量可分為直接測zui和間接
測量兩類。所謂直接測量就是測量結果可以直接地由量具或
址儀的讀數裝置上讀得被測的量的大小，例如用千分尺測量一
個外圓柱直徑、用游標卡尺測zui一段長度等，所謂間接測量，
就是測量的結果不是直接獲得的，而是由測量與其有一定關系
的量，通過計算得到被測的量的大小。例如用正弦規測zui錐體
的錐角，用圓柱(圓球)法測景大圓弧半徑，用弓高弦長法測
量一段非整圓的圓弧半徑等，測量后，要經過計算才能得到被
測的量的大小。
(2)測量和相對測量:
從比較方式的不同，測量可分為測量和相對測量兩類。
所謂測量，是指被測的址和測量單位的標準量直接比
較后，就可得到其值。例如用百分尺測量直徑、用游標卡
尺測量長度，既是直接測量，又是測量，
所謂相對測量，是指被測的量要與標準件進行比較之后，’
根據偏差值才能確定被測的量的大小。例如用指示千分尺測量
軸徑、用測微儀和量塊測量圓柱直徑等。
相對測量方法的出現，是測量技術的一個進步，它使測量
儀器的結構大為簡化，便于采用各種原理進行放大，獲得更高
的梢度，同時由于與標準件比較，所以對測量條件的要求可以
適當放寬些。
(3)接觸測量和非接觸測量:
從接觸形式的不同，測量可分為接觸測量和非接觸測量兩
種。
所謂接觸測量，是指測量時，量具或量儀的測頭直接與被
測零件表面接觸。例如用深度尺測量梢深等。
所謂非接觸測量，是指測量時，測量顯微鏡或量儀與被測零
件無直接機械接觸，而是通過其他介質(如光、氣流等)與零件接
觸。例如在投影儀上將放大了的零件輪廓與標準的放大圖進行
比較;用氣動量儀測量孔徑等。
文章載錄自：金相顯微鏡百科(http://www.bjsgyq。。ｃｏｍ/)