線上電子顯微鏡儀器簡(jiǎn)介!
閱讀:1824 發(fā)布時(shí)間:2012-6-11
In-line SEM(線上型電子顯微鏡)-儀器簡(jiǎn)介
設(shè)備編號(hào):CF-L06
設(shè)備名稱:線上電子顯微鏡(In-line SEM)
放置位置:Class 10
機(jī)臺(tái)型號(hào):HITACHI S-6280H
機(jī)臺(tái)功能
In-line SEM主要用途為線上產(chǎn)品線寬量測(cè),又稱CD-SEM,其特點(diǎn)為WAFER無(wú)須經(jīng)過(guò)切片或鍍金屬膜等預(yù)處理步驟,即可觀察及量測(cè)光阻、絕緣層及金屬層等之圖案,本量測(cè)設(shè)備屬于非壞性檢測(cè),量測(cè)完成之WAFER可以繼續(xù)進(jìn)行下一制程步驟,因此稱為線上型電子顯微鏡。
本機(jī)臺(tái)僅能量測(cè)線寬,由于試片無(wú)法傾斜,因此無(wú)法觀察試片斷面,本機(jī)臺(tái)主要規(guī)格如下:
1. 加速電壓:0.7~1.3kv
2. 放射電流:3~20mA
3. 電子槍:冷陰極場(chǎng)發(fā)射電子源(CCFE)
4. 解析度:6 nm(GOLD)
5. 放大倍率:100X~150000X
6. 試片尺寸:6"晶圓 (平邊)
7. 影像旋轉(zhuǎn):-50°~95°
8. 真空度:≦1×10-7Pa(電子源)
機(jī)臺(tái)的限制(材料,參數(shù)范圍等)
特殊注意事項(xiàng):
1. 試片必須合于規(guī)定的尺寸及材質(zhì),試片底材:Si,試片尺寸:6 inch,具有單一平邊。
2. 試片須完整,不可有缺角或裂紋。
3. 因電子腔內(nèi)為高度真空,故試片不得為揮發(fā)性物質(zhì)、不得為在電子束掃描時(shí)具揮發(fā)性之物質(zhì)。
4. 試片若含光阻,必須先做完硬烤(HARD BAKE),才可將試片送入。
5. 試片不得含有磁性物質(zhì)。
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