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[導讀] 柔性探針具有以下優勢：1)柔性探針等距SECM無需額外增加昂貴的控制與測量硬件;2)測量時無需為達到控制距離而預先測試樣品表面的地形地貌;3)探針設計為與樣品進行柔性接觸，當與樣品表面接觸時，探針會發生柔性彎曲，避免探針自身被劃傷以及探針對樣品表面的損害;4)常規技術中硬性探針和樣品直接接觸會導致表面易損樣品被損壞，如人體組織等。而柔性探針技術接觸樣品的接觸力僅為常規硬接觸探針的千分之一。

　   2016年6月14日，阿美特克集團科學儀器部在北京分公司召開“VersaSCAN微區電化學技術交流會”，并在此交流會上發布新技術——掃描電化學顯微鏡(SECM)柔性探針技術，儀器信息網作為特邀媒體參加了此次交流會。

       John Harper 博士為與會者詳細介紹了此次發布的新技術。此次發布的掃描電化學顯微鏡柔性探針技術于“普林斯頓應用研究VersaScan”產品的柔性接觸和等距測試，是由瑞士洛桑聯邦理工學院的物理和電分析化學實驗室(LEPA-EPFL)Hubert Girault教授課題組經數十年的研究而實現的。阿美特克科學儀器部與該實驗室簽署了*合作協議，集成并銷售其柔性探針技術。柔性探針使得廣大研究者可同時進行等距離和等高模式的SECM測試，可分離3D表面電化學活性響應圖中表面物理形貌和電化學響應的貢獻。

       與市場上常用的硬性探針相比，柔性探針具有以下優勢：1)柔性探針等距SECM無需額外增加昂貴的控制與測量硬件;2)測量時無需為達到控制距離而預先測試樣品表面的地形地貌;3)探針設計為與樣品進行柔性接觸，當與樣品表面接觸時，探針會發生柔性彎曲，避免探針自身被劃傷以及探針對樣品表面的損害;4)常規技術中硬性探針和樣品直接接觸會導致表面易損樣品被損壞，如人體組織等。而柔性探針技術接觸樣品的接觸力僅為常規硬接觸探針的千分之一。未來，阿美特克集團科學儀器部與LEPA-EPFL還將共同致力于實現其它探針材料與技術的商業化，希望SECM柔性探針技術能幫助SECM成為標準電化學測試利器。

     為鼓勵更多的用戶致力于微區電化學的研究，此次交流會特設“普林斯頓應用研究微區電化學論文獎”。本次獎項頒發給了浙江大學劉艷華博士，以表彰其使用VersaScan微區電化學測試系統在涂裝材料研究方面所作出的貢獻，由阿美特克公司科學儀器部亞洲區楊琦女士為其頒獎。

 　　隨后的技術交流過程中，John Harper 博士、劉艷華博士和廈門大學林昌健教授針對微區電化學的技術和應用為大家進行了分享。VersaScan微區電化學測試系統是一個模塊化配置的系統，可實現現今所有微區掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區形貌測試，包括掃描電化學顯微鏡、掃描振動電極測試、掃描開爾文探針測試、微區電化學阻抗測試、掃描電解液微滴測試、非觸式光學微區形貌測試等。此次發布的柔性探針技術主要針對掃描電化學顯微鏡，目前阿美特克可提供有效直15um的柔性碳探針。John Harper 博士還重點介紹了柔性探針技術的應用案例，包括癌細胞成像和黑色素瘤的分期變化(如皮膚癌)、電子應用-電沉積和成像、電催化等。

       劉艷華博士介紹了掃描振動電極測試技術在涂層金屬腐蝕研究中的應用。劉博士主要介紹了兩項工作：一是采用電沉積技術合成了負載緩蝕劑的疏水二氧化硅薄膜;二是構建了基于硅烷修飾的E-Sio2薄膜和環氧樹脂的新型防護體系。在此兩項工作中均利用了掃描振動電極測試技術來表征其微區耐腐蝕性能，與其它表征手段結果均有較好的吻合度。

       林昌健教授自1979年開始研究微區電化學技術，至今已有37年。林教授認為微區電化學之所以能發展到今天的水平，一是科研需求，越來越多的科研人員應用此技術使其成為熱門研究領域;二是科技發展，科技水平的發展也使微區電化學技術有了顯著的進步。未來，微區電化學技術發展很重要的一方面就是探針技術的發展。林教授重點介紹了其團隊開發的新型探針。林教授發現，在空間分辨率足夠高的情況下，除電流、電壓信號外，pH值和氯離子濃度也可以很好的表征局部腐蝕程度，故其團隊開發了可測量pH值和氯離子濃度的探針。未來此探針有望集成到VersaScan微區電化學測試系統上。