三豐高精度非接觸測(cè)量系統(tǒng)LSM-503S
1.每秒3200次高速雷射掃描可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)生產(chǎn)線上的***率測(cè)量。
2.測(cè)量單位的安裝型結(jié)構(gòu)可實(shí)現(xiàn)各種測(cè)量。
3. LSM-500S專門為測(cè)量密線而設(shè)計(jì)。

三豐高精度非接觸測(cè)量系統(tǒng)LSM-503S

測(cè)量范圍：0.3-30mm

產(chǎn)地：日本

產(chǎn)品描述

實(shí)現(xiàn)非接觸，高速和高精度測(cè)量

多用途型，  測(cè)量范圍從0.3mm - 30mm。
高測(cè)量精度，在全測(cè)量范圍內(nèi)達(dá)±1.0um。在窄測(cè)量范圍內(nèi)達(dá)±(0.6+0.1ΔD)um高測(cè)量精度。
高重復(fù)精度達(dá)±0.1um。

技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍：             0.3—30mm
分辨率：                0.00002一0.1mm可選
20℃時(shí)的直線度*：  寬范圍：±1.0um
                            窄范圍：±(0.6+0.1ΔD)um
重復(fù)精度(±2σ)：     ±0.11um
定位誤差**：         ±1.5um
測(cè)量區(qū)域：             10x30mm
激光波長(zhǎng)：             650nm，可見光
掃描速率：             3200 scans/s
激光掃描速度：       226m/s
激光適用標(biāo)準(zhǔn)：       IEC，F(xiàn)DA (544-536)，JIS (544-535)
*在測(cè)量區(qū)域中心
**在測(cè)量區(qū)域中由于工件定位的變化造成可能的測(cè)量錯(cuò)誤ΔD=校正規(guī)和

三豐高精度非接觸測(cè)量系統(tǒng)LSM-503S產(chǎn)品說明：

射外徑測(cè)定機(jī)用高速掃描光素可以測(cè)量於傳統(tǒng)儀器難以測(cè)量的工作，如易碎或彈性零件，零件，需保持清結(jié)的零件，和在測(cè)量力作用下變形的零件，透明零件也可以測(cè)量。

三豐高精度非接觸測(cè)量系統(tǒng)LSM-503S特點(diǎn)：

1.每秒3200次高速雷射掃描可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)生產(chǎn)線上的***率測(cè)量。
2.測(cè)量單位的安裝型結(jié)構(gòu)可實(shí)現(xiàn)各種測(cè)量。
3. LSM-500S專門為測(cè)量密線而設(shè)計(jì)。
4.防塵/防水保護(hù)級(jí)符合IP-64。
5.各測(cè)量單元的光學(xué)特性屬據(jù)可儲(chǔ)存在被提供的ID單元。

射外徑測(cè)定機(jī)用高速掃描光素可以測(cè)量於傳統(tǒng)儀器難以測(cè)量的工作，如易碎或彈性零件，零件，需保持清結(jié)的零件，和在測(cè)量力作用下變形的零件，透明零件也可以測(cè)量。

訂貨編號(hào)	544-531	544-533	544-535	544-537	544-539	544 -495C
機(jī)型	LSM-500S	LSM-501S	LSM-503S	LSM-506S	LSM-512S	LSM-902S
顯示器	544 -071C /LSM-6200					LSM-902S/6900
品牌	Mitutoyo
光源	Wave Length : 650nm，可視光半導(dǎo)體
測(cè)量范圍	0.005 -2mm	0.05 -10mm	0.3 -30mm	1 -60mm	1 -120mm	0.1 -25mm
小解析值	0.01um	0.01um	0.02um	0.05um	0.1um	0.01um
重現(xiàn)性	0.03um	0.04um	0.1um	0.36um	0.8um	0.05um
在20℃直線性＊	0.3um	0.5um	1um	3um	6um	0.5um
位置誤差	0.4um	0.5um	1.5um	4um	8um	0.5um
測(cè)量領(lǐng)域	1x 2mm	4x 10mm	10x 30mm	20x 60mm	30x 120mm	3x 25mm
掃描頻率	3200回/秒					800回/秒
使用溫度	0 ~ 40 C
使用濕度	35 ~ 85%RH (with no condensation)