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供貨周期 | 一個月以上 | 應用領域 | 電子,電氣 |
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ITECH艾德克斯IT2801高精密源測量單元
5寸觸摸顯示屏,使源表具有出色的圖形用戶界面以及各種顯示模式,幫助工程師顯著提高測試效率。廣泛應用于分立半導體器件、功率芯片、無源器件、光電器件、微功耗量測以及材料研究等領域。
ITECH艾德克斯IT2801高精密源測量單元
六合一高精密SMU、降低您的測試成本
傳統的半導體I-V特性測量方案通常是復雜且成本昂貴的,需要多種儀器配合完成測試,如電壓/電流源,脈沖發生器,高精密電壓/電流表等。不僅占用有限的測試臺架空間,同時工程師需要編程實現多臺設備的控制及同步,才能確保測試結果的準確度。IT2800系列SMU為工程師提供了一種即經濟又高效的解決方案。它集六種設備功能于一體,將不同輸出和測量能力整合到緊湊的1/2 2U尺寸中,可精確地輸出電壓或電流以及同時測量電壓和/或電流。它兼具以下儀器的功能:
直觀的圖形化顯示,快速獲取產品特性
IT2800系列SMU的前面板有許多功能,以提高交互式使用的速度,用戶友好性和易操作性。這些功能包括5英寸彩色LCD觸摸顯示屏,USB 2.0 memory I/O端口、一個旋轉導航按鈕、trigger按鍵、功能按鍵以及主流的香蕉插座。USB2.0內存端口支持輕松的數據存儲,測試配置文件導入以及系統升級。IT2800提供圖形化和數字化兩種測量結果顯示模式,直觀的graph view,scope view以及record view視圖,極大地提高了臺架測試和I-V特性分析的效率。直觀的圖形化顯示,快速獲取產品特性Record view 記錄儀視圖允許用戶查看一段時間內的歷史波形和table數據,采樣時間間隔最小為100us,最多可記錄100萬點數據。它還支持導出到電子表格(.CSV),以便進一步分析,極大提高測試調試和debug的效率。示波視圖是在測試過程中實時繪制I-t或V-t曲線,最多可以捕獲和導出600000點的數據,且該功能不受其他功能影響,可以獨立同時運行。示波模式下,采樣率最高可達100000 points/s(10us),有利于測試人員監測低頻瞬態信號。Scope viewGraph view 圖形視圖是在XY圖上顯示測量結果(如I-V和I-t/V-t曲線),這有利于快速評估器件特性,特別是那些從掃描測量
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