產品描述：
Santec PEM-340消光比測試儀可以實現1260~1630nm的全波段測量，該消光比測試儀具有很高的消光比測試精度、偏振角測試精度，能夠測量高達50dB的消光比，并且配備了GPIB接口，適用于偏振光軸調整的光學元器件裝配及保偏光纖熔接的質量控制及檢測等領域。PEM-340可以實現快速，準確的光器件偏振軸對準及保偏光纖（PMF）性能評價。除此之外，使用應答時間為1kHz的模擬功率計， 可對應半導體激光及光纖的高速自動對準。
技術參數：
全波段1260 to 1630 nm
消光比, 光功率及偏振角度的同時顯示
PER測量的50dB動態范圍
寬動態輸入功率范圍
(- 40 to + 10 dBm/標準功率), (- 25 to + 20 dBm/高功率)
直接 PD模擬輸出
實時(up to 10 Hz) 測量
可互換連接器: FC, SC or LC
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