定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片。用于:將激磁次數(shù)降至Z少,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
平衡多向磁場。
參考價 | ¥1300 |
訂貨量 | 1 |
更新時間:2022-05-18 13:49:00瀏覽次數(shù):8590
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I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
平衡多向磁場。
不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業(yè),缺陷呈三個不同深度的同心圓環(huán)。
件號:519632 型號:KSCT-234不同深度的I試片,缺陷深度為試片厚度的20%、30%、40%,試片厚度為0.002英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字:KSCT-234不同深度的I試片