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北京海富達科技有限公司

主營產品: 臭氧檢測儀,環境檢測儀器,水質分析儀/ORP測定儀/溶解氧

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LT-1CCN61M/LT-1高頻光電導少數載流子壽命測試儀報價
高頻光電導少數載流子壽命測試儀報價
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 LT-1CCN61M/LT-1
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 經銷商
  • 所在地 北京市

更新時間:2020-11-05 09:40:57瀏覽次數:761

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【簡單介紹】
產地類別 國產 應用領域 電子
高頻光電導少數載流子壽命測試儀報價

(單晶少子壽命測試儀)原型號LT-1C 型號:CN61M/LT-1

庫號:M220754

1、概述
LT-1高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準(F28-75)及國家標準GB/T1553-1997設計制造。本設備采用高頻光電導衰減測量方法,適用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量,硅單晶壽命測量ρ≥2Ω·cm,由于對樣塊體形
【詳細說明】

高頻光電導少數載流子壽命測試儀報價

高頻光電導少數載流子壽命測試儀報價

(單晶少子壽命測試儀)原型號LT-1C 型號:CN61M/LT-1

庫號:M220754  

1、概述
LT-1高頻光電導少數載流子壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準(F28-75)及國家標準GB/T1553-1997設計制造。本設備采用高頻光電導衰減測量方法,適用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量,硅單晶壽命測量ρ≥2Ω·cm,由于對樣塊體形無嚴格要求,因此廣泛應用于工廠的常規測量。壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及缺陷存在的情況,是單晶質量的重要檢測項目。
2、技術參數

(1)壽命測試范圍:5~10000μs;電阻率測量范圍:ρ≥2Ω·cm
測電子級參雜硅單晶片(厚度小于1mm),電阻率范圍:ρ>0.1Ω·cm(表面可能需要拋光處理)
測量重復性誤差≤±20%
(2)光脈沖發生裝置
重復頻率>20~30次/s,光脈沖關斷時間:0.2~1μs,余輝<1μs
紅外光源波長:1.06~1.09μm(測量硅單晶),紅外光在硅單晶內穿透深度大于500μm如測量鍺單晶壽命需另行配置適當波長的光源
脈沖電源:5A~20A
(3)高頻源
高頻振蕩源:石英諧振器;頻率:30MHz;低輸出阻抗,輸出功率>1W
(4) 放大器和檢波器
放大倍數約25倍,頻寬:2Hz~2MHz
(5)儀器配置的光源電極臺既可測縱向放置的單晶,亦可測豎放單晶橫載面的壽命
可測單晶尺寸:
斷面豎測:直徑25~150,厚度2mm~500mm
縱向臥測:直徑5mm~150mm,長度50mm~800mm
(6)讀數方式:可選配載流子壽命測試軟件系統或數字示波器讀數,軟件系統測試操作簡單,點擊“測量”即可,自動保存數據及相應測試點衰減波形到數據庫,可進行查詢歷史數據和導出歷史數據等操作。

 



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