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能量色散X熒光光譜儀
XTU-50B 鍍層膜厚分析儀
目 錄
一、產品型號
1.1 產品型號
二、儀器介紹
2.1 儀器概述
2.2 性能優勢
2.3 技術指標
三、儀器硬件主體配置
3.1 設備外觀
3.1 探測系統
3.2 X光管
3.3 高壓電源
3.4 微動平臺
3.5 高分辨率CCD
3.6 散熱系統
3.7 防輻射安全系統
四、儀器軟件配置
4.1 軟件界面
4.2 功能特點
五、儀器的外圍設備
5.1 計算機
5.2 噴墨打印機
5.2 儀器相關配件及技術資料
六、及售后服務
一、產品型號
1、產品型號 | ||||||||
型號: Ux-720 鍍層膜厚檢測儀
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二、儀器簡介
2.1 儀器概述
XTU-50B鍍層膜厚分析X射線熒光光譜儀是公司經過3年研發，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統；人性化操作界面；的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。
2.2 性能優勢
1.的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即對樣品鍍層膜厚進行測試
2.除可對金屬鍍層測試外，還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行測量，開創了XRF對鍍層測厚的全面技術
3.軟件可根據樣品材質、形狀和大小自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發揮探測器性能，大幅提高測量精度
4.業內*提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線
5.三重射線防護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害
6.儀器外部對樣品微調設計，降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發生變化導致的測試不準確性
7.可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統計及格式要求
8.業內*家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術在該行業的應用
9.軟件對多次測試結果進行統計分析功能
10.業內*家既可以測試鍍層厚度，又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF
2.3 儀器技術指標
1、儀器尺寸：550(W)x480(D)x470(H)mm
2、樣品腔尺寸：500*360*215mm；
3、zui低檢測厚度：0.005um
4、檢測厚度上限，50 - 80um（視材料而定）
5、zui多測試層數：10層
6、zui小測量面積：0.002mm
7、*分辨率：見下面探測系統詳細參數說明
8、準直器：Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換
9、濾光片：5種濾光片自動切換
10、CCD觀察：260萬像素高清CCD
11、樣品微動范圍：XY50mm
12、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz
13、額定功率：350W
14、重量：約45Kg
15、工作環境溫度：溫度15—30℃
16、工作環境相對濕度：≤85%（不結露）
17、穩定性:多次測量重復性誤差小于0.1%
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