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梅特勒MS205DU雙量程微量分析天平
梅特勒MS系列(MS105DU,MS205DU)雙量程(0.1mg,0.01mg)微量電子天平的基本特征:
無論是簡單的日常工作,還是復雜的稱量程序,NewClassic MS半微量天平將的性能和提高生產力進行了*的結合,這一切都來源于快速的穩定時間以及一貫的可靠結果。
HCD (High Contrast Display)
全自動校準技術(FACT)
保護罩(終端)
保護罩
Below weighing hook for weighing below the balance
高分辨率稱量單元(HRT)
Overload Protection
Built in Date and Time function
SmartTrac shows the entire weighing range
Programmable 3 SmartKeys for shortcut access to applications
Protection of main balance configuration
精確稱量采用梅特勒-托利多高分辨率稱量技術(HRT),內置兩組砝碼。配合全自動校準技術(FACT),確保天平自動完成校正和線性化。
高效處理,減少每次稱量過程必須的操作步驟。左右手互換開關門(ErgoDoor),實現一只手打開防風罩的同時,另一手進行加樣。節約空間,折疊式玻璃防風門,為您節約了使用空間,避免凸出天平以外。天平背部的通訊接口可從側面進行連接。易于清潔,天平清潔從未如此方便:通過防風罩鎖定裝置QuickLock)拆卸防風罩,僅需幾個步驟,并且所有防風罩玻璃和承水盤均可放入洗碗機清洗。
梅特勒MS系列(MS105DU,MS205DU)雙量程(0.1mg,0.01mg)微量電子天平的基本參數:
zui大稱量范圍 可讀性
MS105 半微量天平 120 g 0.01 mg
MS105DU 半微量天平 42 g / 120 g 0.01 mg / 0.1 mg
MS205DU 半微量天平 82 g / 220 g 0.01 mg / 0.1 mg
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