CKS-IA型試塊|CSK-1A試塊|CSK-1A探傷試塊
CKS-IA型試塊適用于JB 4730-2005標準，可以利用CKS-IA型試塊調節儀器掃描速度，測定聲速，探頭K值，分辨率等，是超聲檢測中zui常用的試塊之一。
- OLYMPUS/奧林巴斯
- 其他品牌
- FLUKE/福祿克
- 汕頭超聲
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- 常州安柏
- Agilent/安捷倫
- GE/美國
- TeKtronix/美國泰克
- TES/中國臺灣泰仕
- SIGLENT/鼎陽
- LANDTEK/蘭泰
- SENTRY/中國臺灣先馳
- YOKOGAWA/日本橫河
- LUTRON/中國臺灣路昌
- CEM/香港
- 貝克休斯
- MAGNAFLUX/美國磁通
- ALGOL/艾固
- CENTER/中國臺灣群特
- 北師大光電
- TESTO/德國德圖
- AZ/中國臺灣衡欣
- MITUTOYO/三豐
- Kanomax/日本
- 同惠電子
- HIOKI/日本日置
- SCS/美國
- coliy/德國柯雷
- 精博至誠
化工儀器網