正置金相顯微鏡 具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能,除了對(duì)20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外,因?yàn)榉先说娜粘A?xí)慣,因此更廣泛的應(yīng)用于透明,半透明或不透明物質(zhì)。正置金相顯微鏡在觀察時(shí)成像為正像,這對(duì)使用者的觀察與辨別帶來了極大的方便。除了對(duì)20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外,大于3微米小于20微米觀察目標(biāo),比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡,都能有很好的成像效果。
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