RETS-100 半導體行業相位差膜?光學材料檢查設備
- 公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型號 RETS-100
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2020/6/11 16:38:42
- 訪問次數 939
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zeta電位?粒徑?分子量測量系統，晶圓在線測厚系統，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學材料檢測設備，非接觸光學膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測系統，量子效率測量系統
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,化工,電子,印刷包裝,電氣 |
半導體行業相位差膜?光學材料檢查設備 RETS-100
半導體行業相位差膜?光學材料檢查設備對應范圍廣，從反射型?透過型type的已封入液晶的cell到帶有彩色濾光片的空cell都可對應。
產品信息
特 點
• 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器
• 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板
• 安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備
測量項目
• 封入cell gap
• twist角
• rubbing角
• pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］
• 空cell gap
• 相位差（復折射相位差）的波長分散
• 光學軸
• 橢圓率/方位角
• 三次元折射率/Rth/β
• 分光光譜/色度
測量對象
• 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電）
- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
• 光學材料
- 其他（相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料）
仕 樣
型號 | RETS series |
|---|---|
樣品尺寸 | 20mm×20mm ～ * |
cell gap測量范圍 | 0.1μm ～ 數10μm |
cell gap重復性 | ±0.005μm |
檢出器 | 多通道分光光度計 |
測量波長范圍 | 400nm ～ 800nm |
光學系 | 偏光光學系 |
測量口徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光軸傾斜機構 | -20 ～ 45°、-45 ～ 45°等 |
* 大型玻璃基板也可用（2000mm×2000mm以上）
測量案例
相位差與液晶層間隙值
液晶面內分布圖
采購中心
化工儀器網