LCF series 半導體行業彩色濾光片分光特性測量裝置
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型號 LCF series
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2020/6/11 16:35:25
- 訪問次數 740
產品標簽
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!
zeta電位?粒徑?分子量測量系統,晶圓在線測厚系統,線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學材料檢測設備,非接觸光學膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統,量子效率測量系統
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
---|---|---|---|
應用領域 | 醫療衛生,化工,電子,印刷包裝,電氣 |
半導體行業彩色濾光片分光特性測量裝置 LCF series
半導體行業彩色濾光片分光特性測量裝置非常適合彩色濾光片的光學特性檢查或玻璃基板上膜的膜厚檢查等 FPD生產工程中的所有的檢查。
產品信息
特點
以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
可用于彩色濾光片的光學特性或玻璃基板上膜的薄膜解析等各類評價
通過自動對焦功能和自動繪素位置相結合,測量精度高,登陸recipe實現*自動檢查
測量項目
彩色濾光片評價 | 色測量(透過光譜測量) 色度(XYZ,xy,Lab,L*a*b*,u'v',u*v*) 色差,白平衡 |
---|---|
反射率測量 * | |
濃度(OD)測量 * | |
畫素幅測量 * | |
AF(自動對焦),結合自動繪素 * | |
膜厚評價 | 膜厚測量 |
膜物性解析(n:折射率,k:消減系數) |
測量對象
R, G, B, ITO, PI, PR, OC, BM
仕樣
型號 | LCF series |
---|---|
樣品尺寸 | 50mm×50mm ~* |
檢出器 | 分光光度計 ( MCPD檢出器 ),PMT (option) |
圖像處理 | CCD相機及monitor 自動對焦?結合自動繪畫素機構 |
Stage及測量部支架 | X-Y-Zstage自動及手動(電動方式) |
* 也可用于大型玻璃基板(3000mm×3000mm以上)
測量例
彩色濾光片的R、G、B測量