MB4S B4S B5S B1S-O B2S-O美國(guó)GE保護(hù)膜探頭

歐規(guī)接觸法直探頭

MB4S B4S B5S B1S-O B2S-O美國(guó)GE保護(hù)膜探頭京海興樂(lè)科技（北京）有限公司公司主要提供UT（超聲）MT（磁粉）PT（滲透）RT（射線）等設(shè)備及周邊耗材
主要經(jīng)營(yíng)品牌：美國(guó)奧林巴斯OLYMPUS（原泛美）、美國(guó)GE（原德國(guó)KK）、美國(guó)磁通Magnaflux
汕超（汕頭超聲）、瑞典蘭寶、美國(guó)SP公司、美國(guó)達(dá)高特、英國(guó)易高、新美達(dá)、德國(guó)MR、船牌、等等

應(yīng)用

用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機(jī)器零件、殼體

特點(diǎn)

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評(píng)判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測(cè)

可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損

柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用

用于高溫檢測(cè)時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

接觸法直探頭,帶保護(hù)膜

直探頭要用于手動(dòng)檢測(cè)。應(yīng)用接觸法探傷時(shí)，需要在測(cè)量區(qū)域或多個(gè)測(cè)量區(qū)域涂上薄薄的一層耦合劑，然后直接將探頭放置在被測(cè)物體表面進(jìn)行檢測(cè)。接觸法探傷將探頭分別放置在各檢測(cè)點(diǎn)逐點(diǎn)檢測(cè)，或者在被測(cè)物體表面連續(xù)移動(dòng)探頭來(lái)完成的。

接觸法直探頭, 帶保護(hù)膜探頭

應(yīng)用

•   一般檢測(cè)目的, 簡(jiǎn)單形狀的大零件

•   鍛件, 鑄件

•   板材, 棒材, 方型材

•   容器, 機(jī)器零件, 殼體

•   高溫檢測(cè)時(shí)帶延遲塊

性能特征

•   歐款有可更換膜:

- 在不平整和曲面上增進(jìn)耦合

- 延長(zhǎng)探頭壽命

- 適于DGS缺陷評(píng)定

- 可連接高溫延遲塊

- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標(biāo)準(zhǔn)為側(cè)裝, 頂裝可選

•   美款有三種類型的保護(hù):

- 膜可以在不平整和曲面上增進(jìn)耦合.

- 耐磨帽定期更換可*延長(zhǎng)探頭壽命

- 高溫延遲塊可以實(shí)現(xiàn)  00°F (  00°C)表面檢測(cè).

- BNC 連接端口, 頂裝或側(cè)裝

帶保護(hù)膜探頭—歐洲規(guī)格

B..S 和 MB..S 型

0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜

可定制特殊規(guī)格

附件

帶保護(hù)膜探頭—北美規(guī)格

帶保護(hù)膜探頭—PFCR (側(cè)裝BNC), PFCS (頂裝BNC)

注意: 備用保護(hù)膜套裝另售. 可訂制特殊規(guī)格

備用保護(hù)膜套裝—PFCR/PFCS

PM型工具包包括一個(gè)滾花環(huán)、壓緊螺母、扳手、12片薄膜和一瓶2盎司的耦合劑(不包括探頭) 。

PWC型工具包包括一個(gè)滾花環(huán)、三個(gè)防磨帽和一瓶2盎司的 耦合劑（不包括探頭) 。如果對(duì)近表面分辨率要求很高，則不能采用該選項(xiàng)。

PHTD型工具包包括一個(gè)滾花環(huán)、一個(gè)1英寸或1.5英寸長(zhǎng)的高溫延遲塊和一瓶2盎司的耦合劑 (不包括探頭) 。

*高溫（PHTD）延遲塊：zui高溫度400F，zui大接觸時(shí)間為10秒；重新使用前冷卻到環(huán)境溫度。

探頭選擇準(zhǔn)則與性能

直探頭---單晶

•   被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面

•   接觸面或平或曲

•   缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•   適于穿透厚部件

•   延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率

•   需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•   通常用于手動(dòng)檢測(cè)

直探頭---雙晶

•   接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)

•   缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)

•   近表面分辨率好，用于較薄部件

•   需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊

•   通常用于手動(dòng)檢測(cè)

斜探頭

•   晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上

•   利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播

•   大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換

•   適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫

•   有單晶探頭和雙晶探頭

•   需要耦合層，一般為凝膠，油類

•   有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)

水浸探頭

•   在水中匹配好，效率高

•   適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件

•   通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)

•   耦合*性好，檢測(cè)重復(fù)性高

•   大型零件可以采用探頭架， 溢流法或者水射流法

•   探頭聚焦可以增進(jìn)效果

聚焦的優(yōu)點(diǎn)

•   球面聚焦形成點(diǎn)狀

•   柱面聚焦形成線狀

聚焦優(yōu)勢(shì)

探頭選擇準(zhǔn)則—歐洲規(guī)格

按照歐洲標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)的探頭, 本目錄提供的技術(shù)性能信息依照下表定義。

絕大多數(shù)的探傷儀探頭都免費(fèi)提供全面的性能數(shù)據(jù)表。

探頭選擇準(zhǔn)則—北美規(guī)格

根據(jù)北美標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn), 通用電氣檢測(cè)科技提供三種系列的探頭: Alpha, Benchmark, 和Gamma系列。根據(jù)ASTME-0，對(duì)所有探傷儀所用探頭免費(fèi)提供波形和頻率證書(shū)。

Alpha 系列特性

•   推薦用于分辨率是首要考慮目標(biāo)的場(chǎng)合.

•   適于測(cè)厚和近表面缺陷測(cè)量.

•   脈沖短—機(jī)械衰減大到目前技術(shù)極限.

•   增益通常低于Benchmark和Gamma系列.

•   寬帶—6dB 帶寬范圍從50% 到100%.

•   依據(jù)頻率，尺寸和其他參數(shù)，典型的Alpha 系列波形（右）有一到兩個(gè)周期振蕩。

Benchmark 系列特性

•   產(chǎn)品BENCHMARK COMPOSITE®（壓電復(fù)合材料）晶片

•   在衰減材料中的穿透力遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)探頭。

•   在粗晶，纖維增強(qiáng)復(fù)合等材料中信噪比高。

•   脈沖短—分辨率通常高于Gamma系列。

•   增益通常高于Gamma和Alpha系列。

•   超寬帶—6dB 帶寬范圍從60% 到120%.

•   低聲阻抗晶片提高了斜探頭、延遲式探頭和水浸探頭的性能—與塑料和水可以*地匹配。

Gamma 系列特性

•   通用型探頭，推薦用于大多數(shù)應(yīng)用。

•   中等脈沖寬度, 中等阻尼—增益和分辨率的*結(jié)合.

•   匹配電路在常用場(chǎng)合確保了zui大增益和理想的波形.

•   中等帶寬—典型的6dB帶寬從30% 到50%.

•   依據(jù)頻率，尺寸和其他參數(shù)，典型的Gamma系列波形有三到四個(gè)周期振蕩。