UV757CRT紫外可見分光光度計
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海天普分析儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地 上海市徐匯區龍漕路51弄3號2303室
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/11/29 10:51:39
- 訪問次數 3201
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UV757CRT紫外可見分光光度計主要特點
采用微機測量系統,T-A轉換,自動調整“0”和調整“100”,具有GOTOλ,時間掃描,自動8聯樣品架,自動扣除比色皿誤差,濃度多點標定,斜率和載距設置等動能,具有RS232借口和并行打印機口(打印機,另行選配)。
聯機功能:通過RS-232串行接口,可利用上層軟件作全波長掃描,時間掃描,濃度回歸方程(1次、2次、3次),多波長測試,并大大擴展測試功能(除主機功能外)。
UV757CRT紫外可見分光光度計產品參數
波長: 范圍:200nm-1000nm
度:±0.5nm
重復性:≤0.2nm
光譜帶寬:2nm
透射比: 度:±0.5% τ
重復性:≤0.2% τ
范圍:0.0%τ-200.0%τ
雜散光: ≤0.3%τ(在220nm和340nm處)
吸光度: -0.301%τ-4.000A
穩定性: ≤0.004A/30min
功率和電源:50Hz±1Hz/AC220V±22V